為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收端的均衡能力也會(huì)更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個(gè)極點(diǎn)和2個(gè)零點(diǎn)，其直流增益可以在-5～ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整，以精確補(bǔ)償通道損耗的  影響。同時(shí)，為了更好地補(bǔ)償信號(hào)反射、串?dāng)_的影響，其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對于發(fā)射端來說，PCle5.0相對于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大， 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？甘肅機(jī)械PCI-E測試

校準(zhǔn)完成后，在進(jìn)行正式測試前，很重要的一點(diǎn)就是要能夠設(shè)置被測件進(jìn)入環(huán)回模式。 雖然調(diào)試時(shí)也可能會(huì)借助芯片廠商提供的工具設(shè)置環(huán)回，但標(biāo)準(zhǔn)的測試方法還是要基于鏈  路協(xié)商和通信進(jìn)行被測件環(huán)回模式的設(shè)置。傳統(tǒng)的誤碼儀不具有對于PCle協(xié)議理解的功  能，只能盲發(fā)訓(xùn)練序列，這樣的缺點(diǎn)是由于沒有經(jīng)過正常的鏈路協(xié)商，可能會(huì)無法把被測件  設(shè)置成正確的狀態(tài)。現(xiàn)在一些新型的誤碼儀平臺(tái)已經(jīng)集成了PCIe的鏈路協(xié)商功能，能夠  真正和被測件進(jìn)行訓(xùn)練序列的溝通，除了可以有效地把被測件設(shè)置成正確的環(huán)回狀態(tài)，還可  以和對端被測設(shè)備進(jìn)行預(yù)加重和均衡的鏈路溝通。湖北自動(dòng)化PCI-E測試我的被測件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進(jìn)行PCI-E的測試？

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。

PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進(jìn)行PCIe的主板或者插卡信號(hào)的一致性測試(即信號(hào)電氣質(zhì)量測試),首先需要使用PCIe協(xié)會(huì)提供的夾具把被測信號(hào)引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對于發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測試來說，CBB用于插卡的測試，CLB用于主板的測試；但是在接收容限測試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號(hào)通過夾具連接示波器做校準(zhǔn)，所以無論是主板還是插卡的測試，CBB和CLB都需要用到。pcie接口定義及知識(shí)解析；

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念)；設(shè)備PCI-E測試規(guī)格尺寸

PCI-E硬件測試方法有那些辦法；甘肅機(jī)械PCI-E測試

PCIe5.0物理層技術(shù)PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對PCIe5.0芯片設(shè)計(jì)的Base規(guī)范，針對板卡設(shè)計(jì)的CEM規(guī)范也在2021年制定完成，同時(shí)支持PCIe5.0的服務(wù)器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對于PCIe5.0測試來說，其鏈路的拓?fù)淠Ｐ团cPCIe4.0類似，但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大，整個(gè)鏈路的損耗達(dá)到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預(yù)算的模型。甘肅機(jī)械PCI-E測試