經M2反射的光三次穿過G2分光板，而經M1反射的光通過G2分光板只一次。G1補償板的設置是為了消除這種不對稱。在使用單色光源時，可以利用空氣光程來補償，不一定要補償板；但在復色光源時，由于玻璃和空氣的色散不同，補償板則是不可或缺的。如果要觀察白光的干涉條紋，臂基本上完全對稱，也就是兩相干光的光程差要非常小，這時候可以看到彩色條紋；假若M1或M2有略微的傾斜，就可以得到等厚的交線處（d=0）的干涉條紋為中心對稱的彩色直條紋，**條紋由于半波損失為暗條紋。邁克爾遜和愛德華·威廉姆斯·莫雷使用這種干涉儀于1887年進行了***的邁克耳遜-莫雷實驗，并證實了以太的不存在。干涉是指兩束或多束波在空間中相遇時相互疊加，形成新的波形的現象。吳中區新款雙頻激光干涉儀性價比

檢驗光學元件泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學元件的質量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。引力波測量干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962） [5]。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統（Weiss 1972） [6]姑蘇區附近雙頻激光干涉儀設備廠家干涉儀的應用包括測量微小位移、折射率、波長、材料的光學特性等。

邁克爾遜干涉儀，是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀，可以產生等厚干涉條紋，也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應用。利用該儀器的原理，研制出多種**干涉儀。 [1]

雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展而來的一種外差式干涉儀，以下是對其的詳細介紹：一、基本原理雙頻激光干涉儀利用兩束頻率相近的激光，通過分束后分別作為參考光和測量光。測量光經移動目標反射后與參考光疊加產生多普勒頻移差頻信號，通過檢測差頻的變化來計算位移量。具體來說：雙頻生成：激光器產生兩束頻率相近的激光（如利用塞曼效應或聲光調制），頻率分別為f1和f2。分束干涉：光束經分光鏡分為兩路，一路為參考光（頻率穩定），另一路為測量光（頻率經被測物**移產生多普勒頻移Δf）。光束合并：兩束光在分束器后重新合并，形成干涉圖樣。

多普勒效應：當測量鏡移動時，測量光的頻率變為f1±Δf，與參考光f2干涉后形成差頻信號|(f1±Δf)-f2|，該信號反映出位移引起的頻率變化。信號檢測：光電探測器將光信號轉為電信號，經電路處理提取差頻變化量，然后通過相位比較或脈沖計數來計算位移。二、主要特點精度高：雙頻激光干涉儀以波長作為標準對被測長度進行度量，即使不做細分也可達到微米（μm）量級，細分后更可達到納米（nm）量級。應用范圍廣：雙頻激光干涉儀可用于長度的精密測量，配上適當的附件還可測量角度、直線度、平面度、振動距離及速度等。雙頻激光干涉儀以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。吳中區耐用雙頻激光干涉儀選擇

測量精度不受空氣湍流的影響，無需預熱時間。吳中區新款雙頻激光干涉儀性價比

激光干涉儀是一種高精度的測量工具，以下是對其的詳細介紹：一、定義與原理激光干涉儀是以激光波長為已知長度，利用邁克爾遜干涉系統測量位移的通用長度測量工具。其工作原理基于干涉原理，即當兩束波重疊并結合時，會產生新的波形模式。在激光干涉儀中，激光束被分為兩路，一路經固定反射鏡反射，另一路經可動反射鏡反射，兩束光重新匯合時產生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化被轉換為電信號，進而計算出位移量。吳中區新款雙頻激光干涉儀性價比

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