折射率測定兩光束的幾何路程保持不變，介質折射率變化也可導致光程差的改變，從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進行相對測量的典型干涉儀。應用于風洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進行實時觀察。波長的測量任何一個以波長為單位測量標準米尺的方法也就是以標準米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標準，利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀**涉儀（標準具）曾被用來確定波長的初級標準（鎘紅譜線波長）和幾個次級波長標準，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。干涉圖樣分析：通過觀察干涉條紋的變化，可以獲取關于物體形狀、厚度等信息。常熟銷售雙頻激光干涉儀設備廠家

基于菲索干涉儀的等厚干涉原理設計，通過對比被測平面與標準參照鏡的干涉條紋變化，實現光學元件表面形狀誤差和材料均勻性的非接觸式測量 [1] [3-4]。標準參照鏡面形精度通常達到p-v:λ/20 [3-4]。測量口徑：Φ60mm（典型型號） [3-4]對準方式：兩點對準系統 [3-4]結構特性：小型化設計、防塵性能優異 [3-4]精度范圍：根據型號不同覆蓋1/10-1/100波長梯度 [11.光學制造：檢測平面鏡、棱鏡等光學元件表面面型2.質量檢測：評估光學材料均勻性與透鏡波前像差 [1]3.科研實驗：實驗室環境下進行精密光學計量分析常熟銷售雙頻激光干涉儀設備廠家干涉儀廣泛應用于物理學、工程學、光學等領域。

光源：提供相干光，通常是激光，因為激光具有高度的相干性，能夠產生穩定的干涉條紋。分束器：將光束分成兩部分，通常使用半透半反鏡或分光棱鏡。反射鏡：調節光程差，確保兩束光在干涉屏（或檢測器）上相遇時具有合適的相位差。干涉屏（或檢測器）：顯示干涉結果，或將干涉后的光束轉換為電信號進行進一步分析。三、分類干涉儀可以按照不同的分類原則進行分類，常見的分類方法包括：按結構區分：分為單路徑干涉儀和多路徑干涉儀。單路徑干涉儀中，干涉的波通過同一路徑傳播，如Sagnac干涉儀、等傾干涉和等厚干涉等；而多路徑干涉儀中，干涉的波通過不同的路徑傳播，如邁克爾遜干涉儀。

激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。激光具有**度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀，主要是以邁克爾遜干涉儀為主，并以穩頻氦氖激光為光源，構成一個具有干涉作用的測量系統。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。英文名稱：laser interferometer（激光干涉儀）隨著激光技術和數據處理技術的發展，雙頻激光干涉儀的應用范圍和測量精度將不斷提高。

雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展而來的一種外差式干涉儀，以下是對其的詳細介紹：一、基本原理雙頻激光干涉儀利用兩束頻率相近的激光，通過分束后分別作為參考光和測量光。測量光經移動目標反射后與參考光疊加產生多普勒頻移差頻信號，通過檢測差頻的變化來計算位移量。具體來說：雙頻生成：激光器產生兩束頻率相近的激光（如利用塞曼效應或聲光調制），頻率分別為f1和f2。分束干涉：光束經分光鏡分為兩路，一路為參考光（頻率穩定），另一路為測量光（頻率經被測物**移產生多普勒頻移Δf）。光纖干涉儀：利用光纖中的光波干涉現象，廣泛應用于傳感器、通信等領域。虎丘區定制雙頻激光干涉儀哪家好

即使光強衰減90%，仍然可以得到有效的干涉信號。常熟銷售雙頻激光干涉儀設備廠家

邁克爾遜干涉儀，是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀，可以產生等厚干涉條紋，也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應用。利用該儀器的原理，研制出多種**干涉儀。 [1]常熟銷售雙頻激光干涉儀設備廠家

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