WinCamD-IR-BB特點：適用于 2 μm 至 16 μm 波長范圍的中遠紅外光束分析。640×480 分辨率，17 μm 像素尺寸，有效成像面積 10.9 mm×8.2 mm。高信噪比，超過 1000:1，確保測量的精確性和可靠性。應用：適用于 CO? 激光器（10.6 μm）、量子級聯激光器（QCL）等中遠紅外激光。用于激光器研發、現場服務與維護、光學組件校準等。TaperCamD-LCM特點：大靶面尺寸 25 mm×25 mm，適用于大尺寸光束測量。4.2 MPixel，2048×2048 像素，12.5 μm 像素尺寸。高信噪比 2500:1，動態范圍 44 dB。應用：適用于大功率連續波或脈沖激光的光束質量分析。用于激光加工、激光器制造和光學系統對準。在光學實驗室和光學制造企業中，WinCamD-IR-BB可用于對各種光學元件進行校準和測試。江蘇Ophir光束質量分析儀裝置

光束質量分析儀的測量精度是通過多種方法和措施來保證的，以下是一些關鍵因素和方法：1. 光斑寬度測量誤差控制理論分析：光斑寬度測量誤差對光束質量參數（如光束質量因子 M2、遠場發散角、束腰半徑等）的影響較大。研究表明，光斑寬度測量誤差對光束質量的影響大于位置測量誤差。實驗驗證：通過多次測量和實驗驗證，確保光斑寬度測量的準確性。例如，使用高精度的光電探測器和精確的機械控制系統。2. 光路對準裝置內置對準裝置：一些光束質量分析儀內置光路對準裝置，通過分光片和多個相機對光束進行中心位置測量，并通過調節反射鏡組確保激光光軸和測量透鏡主軸重合。雙相機系統：利用兩個相機同時測量光束的中心位置，通過調整反射鏡組將光束中心對準測量透鏡的主軸，從而保證測量精度。3. 高精度傳感器和探測器高分辨率傳感器：使用高分辨率的傳感器（如 DataRay 的 WinCamD-LCM 采用 4.2 MPixel CMOS 傳感器）可以提高測量精度。低噪聲探測器：采用低噪聲探測器和高動態范圍的傳感器，減少測量誤差。遼寧掃描狹縫光束質量分析儀測量系統WinCamD-IR-BB可用于實時監測激光加工過程中的光束質量。

DataRay光束分析產品已在全球20余個行業批量使用，可概括為“5大領域+20+細分場景”：光通信?光纖熔接與耦合（1550nm優化）?硅光芯片、CPO封裝光束對準?光纜加工質量監控激光制造與工業加工?激光切割/焊接/打標/增材制造（1μm、10μm波段）?激光器生產線M2、發散角、能量分布100%在線檢測?高功率(>kW)聚焦光斑實時監控（配合LBPS/LLPS）醫療與生命科學?眼科飛秒、皮膚科點陣激光焦點診斷?激光手術設備維護與法規認證（IEC60825光束參數）?流式細胞儀、共聚焦顯微鏡激光源品控科研與計量?超快激光（fs/ps）時空特性表征?太赫茲、中紅外量子級聯激光束測量(2–16μm)?光學頻率梳、冷原子實驗光束漂移記錄新興消費電子與汽車?LiDAR（905nm/1550nm）VCSEL陣列遠場分析?AR/VR結構光模組、光學鼠標LED/激光光源測試?車載激光雷達量產線100%光束一致性檢測得益于190nm–16μm全波段覆蓋、μm–200mm全尺寸范圍及3年質保，DataRay已成為上述行業光束質量量化的“標準配置”。

紫外和近紅外波段特點：BladeCam2-XHR-UV 支持 190 nm 至 1150 nm 的波長范圍，適用于紫外和近紅外波段。應用：適用于紫外激光器（如 355 nm Nd:YAG 激光器）和近紅外激光器（如 1064 nm Nd:YAG 激光器）的光束質量分析。總結BladeCam2-XHR-UV 以其高分辨率、緊湊設計和***的波長支持，成為多種應用場景下的理想選擇。它不僅適用于激光加工、醫療激光設備和光學系統的現場維修，還支持紫外和近紅外波段的光束質量分析。如需了解更多詳情或購買，建議訪問譜鐳光電官網。BladeCam系列光束分析儀可用于CW（連續波）和高重頻率脈沖激光的分析。

基于神經網絡的快速測量方案近年來，基于神經網絡的深度學習技術被應用于 M2 因子的快速測量。這種方法的基本原理是：數據采集：相機獲取激光光源輸出的單幅近場光斑圖像。神經網絡分析：將采集到的光斑圖像輸入訓練后的神經網絡，快速得到 M2 因子。4. 注意事項光束輪廓與測量方法：對于非高斯光束，方差方法更為一致。如果存在***的背景水平或背景噪聲，方差讀數會偏大。能量積分范圍：根據 ISO 11145 標準，第二矩計算應覆蓋光束輪廓中 99% 的總能量。光束腰輪廓形狀對擬合的影響：如果光束腰在傳播方向（z 方向）的輪廓過于平坦或呈“V”形，擬合效果會較差。通過上述方法，光束分析儀能夠精確測量 M2，為激光器的研發和應用提供重要的數據支持。各種光束分析儀附件，包括采樣器、光學鏡組、平移臺、UV和IR轉換器等，能夠進一步拓展儀器的應用范圍。上海自動光束質量分析儀測量系統

USB 3.0 接口支持即插即用，無需外部電源適配器。江蘇Ophir光束質量分析儀裝置

光束分析儀測量 M2 的方法光束質量因子 M2 是評估激光光束質量的重要參數，表示實際激光光束與理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析儀測量 M2 的主要方法和步驟：1. 標準多次成像法根據國際標準化組織（ISO 11146）標準，多次成像法是測量 M2 的常用方法。具體步驟如下：光束采樣：在光束傳播路徑上，使用光束分析儀在多個不同位置（通常至少10個）采集光束的橫截面圖像。這些位置應包括光束腰兩側的一個瑞利長度內（|z|<zR）和兩個瑞利長度之外（|z|>2zR）。數據擬合：通過分析采集到的光束寬度數據，利用雙曲線擬合方法計算 M2 值。2. 單次成像法單次成像法通過一次成像獲取光束傳播的關鍵參數，并基于光場傳輸理論推導出 M2 值。這種方法的**在于：近場光斑測量：使用光束分析儀采集單幅激光近場光斑。模式分解與光場重構：通過模式分解技術得到激光的各本征模式占比及相對相位，進而重構光場分布并計算得到 M2 值。江蘇Ophir光束質量分析儀裝置