振動是自然界較普遍的現(xiàn)象之一，是指物體在平衡位置附近的往復(fù)運動，在振動的過程中，振動物體的一些物理參數(shù)，如位移、速度等，將發(fā)生反復(fù)變化，由此對日常生活和電子工程帶來一定的危害。對于電工電子產(chǎn)品而言，在產(chǎn)品包裝運輸、安裝及使用過程中，都會發(fā)生振動，這種振動一般是隨機且無規(guī)律的，為提前確保產(chǎn)品到客戶手里可正常使用，國家標(biāo)準(zhǔn)中針對電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗，也明確定義了振動的測試標(biāo)準(zhǔn)。 振動的危害 振動會影響精密儀器設(shè)備的功能，加劇構(gòu)件的疲勞和磨損，從而縮短機器和結(jié)構(gòu)物的使用壽命 引起結(jié)構(gòu)的大變形破壞，產(chǎn)生巨大損失 導(dǎo)致產(chǎn)品性能和工作狀態(tài)的不穩(wěn)定，甚至產(chǎn)品的損壞 降低行業(yè)產(chǎn)品競爭力 破壞企業(yè)品牌形象 產(chǎn)生更高的費用和售后人力振動測試是工程領(lǐng)域中一種重要的實驗手段，用于評估機械系統(tǒng)、構(gòu)件或設(shè)備在受到振動時的性能和耐久性。機柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)

 振動測試在工程設(shè)計中，有時只需知道低階（如一、二階）固有頻率、振型以及阻尼系數(shù)，可用簡易方法測定這些參量固有頻率測定

用敲擊或突然卸載使系統(tǒng)產(chǎn)生自由振動,記錄其衰減波形并與儀器中的時標(biāo)信號比較,或?qū)⑿盘柊l(fā)生器產(chǎn)生的固定頻率正弦波和衰減波形輸入射線示波器，由示波器顯示的利薩如圖形求得一、二階固有頻率。如果有激振器或振動臺，則可對系統(tǒng)進行步進頻率激振或低速掃頻激振以尋找共振頻率，在小阻尼時共振頻率近似等于固有頻率。 

機柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)振動是電子設(shè)備的重要質(zhì)量特性之一。

 振動測試在工程設(shè)計中，有時只需知道低階（如一、二階）固有頻率、振型以及阻尼系數(shù)，可用簡易方法測定這些參量：1、振型測定，手持木質(zhì)或鋁質(zhì)探針接觸被測系統(tǒng)各點，由撞擊聲音（或憑手感）測定所有不振動點的位置，即節(jié)線位置。對水平放置的平板型系統(tǒng)，可在平板上撒上砂粒，振動時砂粒將聚集到節(jié)線上，由節(jié)線分布情況即可大致判斷振型。2、阻尼測定，可采用衰減振動法、共振法和相位法。衰減振動法是用記錄儀記錄自由振動的衰減波形，由相鄰?fù)虻膬纱位驍?shù)次的振幅的衰減率算出阻尼值；共振法是由共振時振幅和共振區(qū)頻率帶寬算出阻尼值；相位法是由共振區(qū)相位隨頻率變化關(guān)系算出阻尼值。

 一般情況下振動試驗的方向是三個方向，也有只需要做水平方向或只做垂直方向的；

振動試驗屬于機械破壞性試驗，大多數(shù)情況下是不需要在通電狀態(tài)下做的，而有的振動試驗專門有功能性試驗就需要振動試驗過程中一直帶電振動，如GJB150A-2009螺旋槳式飛機振動和GB21563中的功能性振動試驗都是需要帶電試驗的。

做為用戶需要知道振動試驗完成后如何判定，一般情況下只判定樣品外觀結(jié)構(gòu)無損壞，螺釘無脫落等；若樣品振動試驗過程中和試驗后通電無異?？梢詫懮袭a(chǎn)品上電能正常工作。

為了進行振動測試，工程師通常會使用振動臺來產(chǎn)生規(guī)定頻率和幅度的振動，以此來模擬真實世界中的振動條件。

正弦振動檢測是能用一項正弦函數(shù)表達式表達其運動規(guī)律的周期運動。例如凡是旋轉(zhuǎn)、脈動、振蕩（在船舶、飛機、車輛、空間飛行器上所出現(xiàn)的）所產(chǎn)生的振動均是正弦振動。正弦振動測試的目的是在試驗室內(nèi)模擬電工電子產(chǎn)品在運輸、儲存、使用過程中所遭受的振動及其影響，并考核其適應(yīng)性。它的試驗條件由振動頻率范圍、振動量、試驗持續(xù)時間（次數(shù)）共同確定。振動頻率范圍表示振動測試由某個頻率點到某個頻率點進行往復(fù)掃頻。例如：試驗頻率范圍5-50Hz，表示由5Hz到50Hz進行往復(fù)掃頻。什么叫振動測試和環(huán)境測試？機柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)

電子電氣產(chǎn)品的振動測試是怎樣做的?都有什么檢測項目?機柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護等級（外殼防護試驗）： 外殼防護等級（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005 18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 機柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)

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