HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速壽命試驗(yàn))-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品地震的測(cè)試手段，HALT/HASS 是由美國(guó)軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國(guó)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6 個(gè)月甚至1 年的新產(chǎn)品地震試驗(yàn)縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問(wèn)題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題一致，故HALT/HASS 的試驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過(guò)的驗(yàn)證。在美國(guó)之外，許多國(guó)際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來(lái)提升產(chǎn)品質(zhì)量。 HALT 是一種通過(guò)讓被測(cè)物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限，以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng)，高低溫，溫度循環(huán)，電力開(kāi)關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品地震的薄弱環(huán)節(jié)。地震測(cè)試以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分,可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn)。上海模擬抗地震實(shí)驗(yàn)室

地震試驗(yàn)有多種分類方法. 1. 如以環(huán)境條件來(lái)劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn); 2. 以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分,可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn); 3. 若按試驗(yàn)?zāi)康膩?lái)劃分,則可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn); 4. 若按試驗(yàn)性質(zhì)來(lái)劃分,也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)兩大類。 5. 但通常慣用的分類法,是把它歸納為五大類:A. 環(huán)境試驗(yàn)B. 壽命試驗(yàn)C. 篩選試驗(yàn)D. 現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)E. 鑒定試驗(yàn) 1. 環(huán)境試驗(yàn)是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境（振動(dòng)、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等）條件下的適應(yīng)能力,是評(píng)價(jià)產(chǎn)品地震的重要試驗(yàn)方法之一。上海模擬抗地震實(shí)驗(yàn)室第三方地震測(cè)試公司，歡迎咨詢上海天梯！

上海天梯檢測(cè)——高壓空載，低壓限流態(tài)運(yùn)行試驗(yàn) 測(cè)試說(shuō)明： 高壓空載運(yùn)行是測(cè)試模塊的損耗情況，尤其是帶軟開(kāi)關(guān)技術(shù)的模塊，在空載情況下，軟開(kāi)關(guān)變?yōu)橛查_(kāi)關(guān)，模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運(yùn)行是測(cè)試模塊在較大輸入電流時(shí)，模塊的損耗情況，通常狀態(tài)下，模塊在低壓輸入、滿載輸出時(shí)，效率較低，此時(shí)模塊的發(fā)熱較為嚴(yán)重。 測(cè)試方法： A、將模塊的輸入電壓調(diào)整為輸入過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)-3V，模塊的輸出為較低輸出電壓，空載運(yùn)行，此時(shí)，模塊的占空比為較小，連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，模塊不應(yīng)損壞； B、將模塊的輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)+3V，模塊的輸出為較高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài)，此時(shí)模塊的占空比為較大，連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞

HALT 是一種通過(guò)讓被測(cè)物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限，以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng)，高低溫，溫度循環(huán)，電力開(kāi)關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品地震的薄弱環(huán)節(jié)。包含以下內(nèi)容： a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障； b、采取臨時(shí)措施，修正產(chǎn)品的失效或故障； c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正； d、重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟； e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。 HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT 中找到的改進(jìn)措施能夠得到實(shí)施。HASS 包含如下內(nèi)容： a、進(jìn)行預(yù)篩選、剔除可能發(fā)展為明顯缺點(diǎn)的隱性缺點(diǎn)； b、進(jìn)行探測(cè)篩選、找出明顯缺點(diǎn)； c、故障分析；改進(jìn)措施。地震測(cè)試與質(zhì)量檢測(cè)有何區(qū)別?

溫濕環(huán)境試驗(yàn)系列 　　序號(hào) 項(xiàng)目 試驗(yàn)范圍 　　1 高溫試驗(yàn) （1）高溫箱(小) 常溫~300℃ 　?。?）1m3 常溫~100℃ 　?。?）16 m3 常溫+10℃~80℃ 　?。?）40 m3 常溫+10℃~80℃ 　　2 低溫試驗(yàn) （1）0.2 m3 -40℃ 　?。?） 1m3 -40℃ 　?。?）16 m3 -40℃ 　?。?）16 m3 -40℃--70℃ 　　3 恒定濕熱 （1）0.2 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　　（2） 1m3 20℃~80℃ 20%~98%R.H 　?。?）16 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　?。?）40 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　　4 交變高低溫濕熱 （1）0.2m3 -20℃~80℃ 30%~95%R. 　?。?）1m3 -40℃~80℃ 20%~98%R.H 　?。?）16 m3 -40℃~80℃ 30%~95%R.H 　　5 鹽霧試驗(yàn) 　　35℃~50℃ 250L （1） 中性鹽霧 　?。?） 銅加速乙酸 　　（3） 交變鹽霧電源地震測(cè)試有哪些?上海模擬抗地震實(shí)驗(yàn)室

地震測(cè)試有哪些?怎么辦理地震測(cè)試？上海模擬抗地震實(shí)驗(yàn)室

為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國(guó)標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目，上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司為客戶提供以下地震測(cè)試服務(wù)： 高低溫循環(huán)測(cè)試 恒溫恒濕測(cè)試 交變濕熱測(cè)試 低溫存儲(chǔ)測(cè)試 高溫存儲(chǔ)測(cè)試 高低溫沖擊測(cè)試 鹽霧測(cè)試(Salt Spray Test) 開(kāi)關(guān)電測(cè)試(Switch electrical test) 膠帶附著力測(cè)試(The tape adhesion test) 振動(dòng)測(cè)試隨機(jī)/正弦(Vibration test) 包裝箱自由跌落測(cè)試(Drop test) 元器件推拉力測(cè)試(Push And Pull) 蒸氣老化測(cè)試(Steam Aging test) 元器件可焊性測(cè)試(Solderability test) IP等級(jí)防護(hù)測(cè)試 電源拉扭力測(cè)試 LED光衰壽命測(cè)試及認(rèn)證 回焊爐試驗(yàn) 塑封芯片MSL等級(jí)測(cè)試上海模擬抗地震實(shí)驗(yàn)室

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