晶圓邊緣區域良率持續偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統在完成stdf、log等原始數據清洗后，依據晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現中心、過渡區與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區域的表現，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現象是偶發異常還是系統性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優化措施從“整體調整”轉向“精確干預”，明顯提升工藝調試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。Mapping Over Ink處理后的數據完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計需求。北京自動化PAT系統

在封測工廠的日常運營中，良率波動往往源于測試數據分散、格式不一或異常信息未被及時識別。YMS系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測試數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常數據過濾，確保后續分析基于準確、完整的數據基礎。通過標準化數據庫對數據統一分類，系統支持從時間序列追蹤良率趨勢，或從晶圓區域對比缺陷分布，快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數的自動計算與卡控機制，進一步強化了質量防線。靈活的報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，滿足從產線到管理層的信息需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續深耕半導體軟件領域，其YMS系統已成為封測企業實現質量閉環管理的重要支撐。黑龍江半導體PAT平臺上海偉諾信息科技GDBN功能，通過各種算法可以幫助客戶快速剔除芯片上異常風險芯片。

企業在評估測封良率管理系統投入時，關注的是功能覆蓋度與長期服務保障。YMS提供模塊化配置，支持根據實際使用的Tester類型（如ETS364、Juno、AMIDA、CTA8280等）和數據格式（包括stdf、jdf、log等）靈活調整功能組合。系統不僅完成數據自動清洗與整合，還通過標準化數據庫實現時間趨勢、區域對比及缺陷聚類的多維分析。SYL與SBL的自動計算與閾值卡控，為封測過程設置動態質量防線。報價策略基于定制化程度與服務范圍，確保企業在合理預算內獲得高性價比解決方案。配套的售前咨詢、售中方案優化與售后標準化服務，保障系統穩定運行與持續演進。上海偉諾信息科技有限公司以透明定價與完整服務體系，幫助客戶實現良率管理的可持續提升。

半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據，完成統一解析與結構化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區域對比分析，還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據；靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的功能完整性與行業適配性。Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規級場景，保障晶圓表面完整性。

當封測廠面臨多設備、多格式測試數據難以統一處理的困境時，YMS系統通過自動化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數據，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，明顯降低人工干預成本。標準化數據庫實現數據統一分類，支持從時間趨勢到晶圓區域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動點。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節點，強化過程質量防線。靈活報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協同效率。系統報價覆蓋軟件授權、必要定制及全周期服務，確保投入產出比合理。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS功能，助力客戶實現高性價比的良率管理。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。黑龍江半導體PAT平臺

Mapping Over Ink處理兼容主流Probe設備數據格式，支持跨平臺數據無縫對接。北京自動化PAT系統

當封測廠每日面對來自數十臺測試機臺的海量異構數據時，傳統手工匯總方式已難以滿足實時質量管控需求。YMS系統通過自動化流程，即時采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設備輸出的原始測試數據，剔除重復、缺失與異常記錄，構建高可信度的數據底座。標準化數據庫支持從時間軸追蹤良率波動，或聚焦晶圓特定區域識別系統性缺陷，結合WAT、CP、FT參數變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當某批次FT良率驟降時，系統可聯動CP數據判斷是否為封裝環節引入問題，縮短排查周期達數小時。圖表化界面與日報、周報、月報自動生成機制，使管理層能基于一致數據源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解，將YMS打造為數據驅動質量改進的關鍵工具。北京自動化PAT系統

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！