在評估良率管理系統投入時，企業關注的不僅是初始采購成本，更是長期使用中的效率回報與服務保障。YMS系統提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權、必要定制、技術培訓及持續運維支持，確保部署后穩定運行與功能演進。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數據，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報價結構避免隱性收費，使預算規劃更可控。同時，系統內置的SYL/SBL自動計算與卡控、多維度良率分析及靈活報表導出功能，直接支撐質量決策效率提升。這種“一次投入、持續賦能”的模式，明顯優化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，始終以合理定價與高價值交付贏得客戶信賴。Mapping Over Ink處理支持結果回溯，便于客戶驗證和審計分析結果。新疆可視化GDBC服務商

晶圓邊緣區域良率持續偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統在完成stdf、log等原始數據清洗后，依據晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現中心、過渡區與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區域的表現，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現象是偶發異常還是系統性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優化措施從“整體調整”轉向“精確干預”，明顯提升工藝調試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。半導體GDBC服務PAT模塊通過統計方法識別電性參數異常但功能Pass的單元，剔除隱性風險芯片。

在高頻測試場景下，重復提交或設備通信中斷常導致數據冗余或缺失，直接影響良率計算準確性。YMS系統通過時間戳、測試編號、晶圓ID等關鍵字段自動掃描數據集，識別完全重復或部分重疊的記錄，并予以合并或剔除；同時檢測關鍵參數字段是否為空，快速定位缺失節點并提示修正。該機制嵌入數據清洗流程，與異常值過濾協同工作，確保進入分析環節的數據集完整、干凈、無偏。例如，當某批次CP測試因機臺故障中斷后重跑，系統可自動識別并保留有效片段，避免重復計數拉低整體良率。這種自動化質量控制大幅降低人工核查負擔，提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數據完整性視為YMS的關鍵能力之一，持續強化其在復雜生產環境中的魯棒性。

在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統一管理的挑戰時，YMS良率管理系統提供了一套端到端的解決方案。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統一分類，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續打磨YMS系統，助力客戶構建自主可控的良率管理能力。Mapping Over Ink處理算法組合可根據產品類型靈活配置，適配消費級至前沿芯片需求。

面對國產半導體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統成為打通數據孤島、實現質量閉環的關鍵工具。系統自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數據，通過內置算法識別重復項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續分析基于高可信度數據源。在標準化數據庫支撐下，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝波動點。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注打造適配本土需求的YMS系統，助力構建中國半導體軟件生態。Mapping Over Ink處理通過虛擬篩選避免不良品流入封裝或市場環節，提升產品良率。廣西Mapping Inkless工具

Mapping Over Ink處理支持txt與原始Probe格式雙向轉換，滿足多樣化數據需求。新疆可視化GDBC服務商

當多臺測試設備同時產出異構數據時，傳統人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設備的spd、jdf、zip等格式數據統一解析、清洗并結構化存儲，構建一致的數據底座。在此基礎上，結合WAT、CP、FT等關鍵測試階段的參數變化，系統能夠揭示影響良率的深層關聯，輔助工程師精確調整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應周期。報表功能支持按需定制并導出多種辦公格式，提升跨部門協同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預防批量性質量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質取勝”的宗旨，致力于打造適配國產半導體生態的智能良率管理工具。新疆可視化GDBC服務商

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！