當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí)，只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架，建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時(shí)CP漏電流異常升高，YMS可自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者趨勢，提示前道氧化工藝可能存在波動(dòng)。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化，快速鎖定關(guān)鍵影響因子，避免在封裝或測試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)，減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數(shù)據(jù)，使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。PAT模塊通過統(tǒng)計(jì)方法識(shí)別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元，剔除隱性風(fēng)險(xiǎn)芯片。甘肅PAT解決方案

在高頻測試場景下，重復(fù)提交或設(shè)備通信中斷常導(dǎo)致數(shù)據(jù)冗余或缺失，直接影響良率計(jì)算準(zhǔn)確性。YMS系統(tǒng)通過時(shí)間戳、測試編號(hào)、晶圓ID等關(guān)鍵字段自動(dòng)掃描數(shù)據(jù)集，識(shí)別完全重復(fù)或部分重疊的記錄，并予以合并或剔除；同時(shí)檢測關(guān)鍵參數(shù)字段是否為空，快速定位缺失節(jié)點(diǎn)并提示修正。該機(jī)制嵌入數(shù)據(jù)清洗流程，與異常值過濾協(xié)同工作，確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)集完整、干凈、無偏。例如，當(dāng)某批次CP測試因機(jī)臺(tái)故障中斷后重跑，系統(tǒng)可自動(dòng)識(shí)別并保留有效片段，避免重復(fù)計(jì)數(shù)拉低整體良率。這種自動(dòng)化質(zhì)量控制大幅降低人工核查負(fù)擔(dān)，提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)完整性視為YMS的關(guān)鍵能力之一，持續(xù)強(qiáng)化其在復(fù)雜生產(chǎn)環(huán)境中的魯棒性。黑龍江晶圓PAT服務(wù)商Mapping Over Ink處理實(shí)現(xiàn)測試通過率與長期可靠性雙重保障，平衡質(zhì)量與產(chǎn)出效率。

良率波動(dòng)若不能及時(shí)干預(yù)，可能造成數(shù)百萬級(jí)的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化流程，即時(shí)采集并清洗來自多種測試平臺(tái)的異構(gòu)數(shù)據(jù)，構(gòu)建高可信度分析基礎(chǔ)。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產(chǎn)品月度良率下降與特定封裝線關(guān)聯(lián)，并結(jié)合FT參數(shù)驗(yàn)證是否為打線偏移導(dǎo)致。SYL/SBL卡控機(jī)制設(shè)置動(dòng)態(tài)閾值，在指標(biāo)異常時(shí)自動(dòng)預(yù)警，實(shí)現(xiàn)前置質(zhì)量管控。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速?zèng)Q策。這種“實(shí)時(shí)感知—智能歸因—主動(dòng)干預(yù)”的能力，將良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)升級(jí)為數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的可靠性與實(shí)用性。

在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司或封測廠面臨多源測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時(shí)，YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解決方案。系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺(tái)，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數(shù)據(jù)，并完成重復(fù)性檢測、缺失值識(shí)別與異常過濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對(duì)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，企業(yè)可從時(shí)間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植迹焖俣ㄎ还に嚠惓！＝Y(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，進(jìn)一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制強(qiáng)化了過程質(zhì)量防線，而靈活的報(bào)表工具支持按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級(jí)決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)打磨YMS系統(tǒng)，助力客戶構(gòu)建自主可控的良率管理能力。上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)芯片。

為提升晶圓測試（CP測試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此，越來越多的公司在CP測試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測，以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測試“通過”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn)，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問題：一是通過數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺(tái)（如TSK、TEL、UF3000等）可識(shí)別的格式，實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化，有效提升品質(zhì)與效率。Mapping Over Ink處理方案支持高密度邏輯與模擬芯片應(yīng)用，覆蓋多品類半導(dǎo)體產(chǎn)品。貴州Mapping Inkless工具

上海偉諾信息科技Shot Map功能，可以自定義設(shè)定Wafer Mapping上Reticle區(qū)域并按規(guī)則Ink。甘肅PAT解決方案

在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測試環(huán)境中，人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化流程，實(shí)時(shí)匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與清洗，消除因格式差異導(dǎo)致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對(duì)，支持從批次到晶圓級(jí)別的精細(xì)監(jiān)控。當(dāng)某一批次良率驟降時(shí)，系統(tǒng)可迅速調(diào)取對(duì)應(yīng)區(qū)域的缺陷熱力圖，并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，輔助工程師在數(shù)小時(shí)內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)預(yù)警，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報(bào)表一鍵生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)封測與制造場景的深入理解，持續(xù)優(yōu)化YMS的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)能力。甘肅PAT解決方案

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績讓我們喜悅，但不會(huì)讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績而沾沾自喜，相反的是面對(duì)競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！