Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進行智能分析、處理，并直接驅動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉化為物理世界中的行動——將不良品標記出來，使其在后續封裝中被剔除。其重點是預見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。

上海偉諾信息科技有限公司作為半導體測試領域的解決方案供應商，致力于為國內外半導體設計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業界前沿、專業的數據分析與處理模塊，旨在通過多重維度的智能篩選，構筑起一道安全的質量防線，有效地提升用戶的晶圓測試質量與產品可靠性。 PAT模塊與GDBC算法協同減少誤剔除良品風險，平衡質量與成本。江蘇MappingOverInk處理解決方案

作為國產半導體軟件生態的重要建設者，YMS系統的開發始終圍繞真實生產痛點展開。系統兼容主流Tester平臺，自動處理stdf、csv、log等十余種數據格式，完成從采集、清洗到整合的全流程自動化，消除信息孤島。其分析引擎支持多維度交叉比對，例如將晶圓邊緣良率偏低現象與刻蝕設備參數日志關聯，輔助工程師精確歸因。SYL/SBL卡控機制嵌入關鍵控制點，實現過程質量前置管理。配套的報表工具可按模板一鍵生成周期報告，大幅提升跨部門協同效率。更重要的是，系統背后有完整的售前咨詢、售中方案優化與售后標準化服務體系支撐，確保價值落地。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業積累，使YMS成為兼具技術深度與實施可靠性的國產替代選擇。中國澳門可視化MappingOverInk處理系統定制Mapping Over Ink處理兼容主流Probe設備數據格式，支持跨平臺數據無縫對接。

半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據，完成統一解析與結構化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區域對比分析，還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據；靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的功能完整性與行業適配性。

在晶圓制造過程中，制程偏差是導致良率損失的主要因素之一，其典型表現即為晶圓上Die的區域性集群失效。此類失效并非隨機分布，而是呈現出與特定制程弱點緊密相關的空間模式，例如由光刻熱點、CMP不均勻或熱應力集中所導致的失效環、邊緣帶或局部區塊。然而，一個更為隱蔽且嚴峻的挑戰在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個“受影響區”。該區域內的Die雖然未發生catastrophicfailure，其內部可能已產生參數漂移或輕微損傷，在常規的CP測試中，它們仍能滿足規格下限而呈現出“Pass”的結果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續封裝應力或終端應用的嚴苛環境下，早期失效的風險將明細高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規的良率分析已不足以應對。必須借助特定的空間識別算法，對晶圓測試圖譜進行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據此將失效區周圍一定范圍內的“PassDie”也定義為高風險單元并予以剔除。這一操作是構建高可靠性產品質量防線中至關重要的一環。 Mapping Over Ink處理支持結果回溯，確保數據在供應鏈中無縫傳遞。

良率管理服務的價值體現在全生命周期的技術陪伴與問題解決能力。YMS系統不僅提供數據采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺，更通過售前技術咨詢、售中合理化方案定制與售后標準化服務，確保系統與客戶實際流程深度契合。當客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設備后，系統自動處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數據，完成異常檢測與結構化存儲。管理者可通過圖表直觀掌握良率趨勢、區域缺陷分布及WAT/CP/FT參數關聯性，快速制定改進措施。SYL與SBL的自動計算與閾值監控，進一步提升過程穩定性。靈活的報表工具支持多格式導出，打通從車間到決策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完善的服務體系支撐YMS落地，持續助力半導體企業邁向高質量發展。AECQ合規性內嵌于Mapping Over Ink處理的算法判定邏輯中，確保車規級標準嚴格執行。福建晶圓PAT解決方案

Mapping Inkless輸出數據可直接用于客戶交付，支持快速驗證。江蘇MappingOverInk處理解決方案

半導體制造過程中，良率數據的時效性與準確性直接決定工藝優化的效率。YMS系統通過自動采集ASL1000、SineTest、MS7000等測試平臺生成的多源數據，完成端到端的數據治理，消除因格式混亂或信息缺失導致的分析盲區。系統建立的標準化數據庫，使生產團隊能夠從時間軸觀察良率波動規律，或聚焦特定晶圓區域識別系統性缺陷，從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數的自動計算與閾值卡控，為過程質量提供前置預警。同時，系統內置的報表引擎可一鍵生成周期性分析簡報，并以PPT、Excel或PDF形式輸出，便于管理層掌握產線健康狀態。這種數據驅動的管理模式，明顯提升了制造穩定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專注半導體行業系統開發，其YMS產品正助力制造企業邁向精細化運營。江蘇MappingOverInk處理解決方案

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