良率管理的目標是將海量測試數據轉化為可執行的工藝洞察。YMS系統通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數據，完成端到端的數據清洗與整合，消除人工干預帶來的誤差與延遲。在此基礎上，系統構建標準化數據庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內邊緣區域良率驟降是否與刻蝕參數漂移相關。結合WAT、CP、FT數據的交叉驗證，可區分設計缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計算與實時卡控，為關鍵指標設置動態防線。周期性報告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導出，使管理層能基于一致數據源快速決策。這種從數據到行動的閉環機制，明顯提升了生產過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導體軟件生態為使命，持續推動YMS成為行業提質增效的基礎設施。Mapping Over Ink處理系統在質量事件發生時自動觸發設備維護工單，實現預防性維護。上海晶圓Mapping Inkless工具

當CP良率驟降而FT失敗模式復雜時，只靠單一測試階段數據難以歸因。YMS系統將WAT、CP與FT參數統一納入分析框架，建立跨階段關聯模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時CP漏電流異常升高，YMS可自動關聯兩者趨勢，提示前道氧化工藝可能存在波動。圖形化界面支持并排查看參數曲線與良率變化，快速鎖定關鍵影響因子，避免在封裝或測試環節盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數天縮短至數小時，減少試產浪費。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數據，使YMS成為良率攻關的關鍵工具。西藏可視化GDBCPAT模塊通過統計方法識別電性參數異常但功能Pass的單元，剔除隱性風險芯片。

芯片制造對良率控制的精度要求極高，YMS系統為此提供了從數據采集到根因分析的一站式解決方案。系統兼容多種測試平臺輸出的多格式文件，自動完成數據清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數據一致性。通過關聯WAT、CP、FT等階段的關鍵參數，系統可精確識別導致良率下降的工藝或設計問題，并以圖表形式展現芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報表引擎支持按周期自動生成分析簡報，便于跨部門協同與持續改進。這種精細化的數據治理能力，使企業在激烈競爭中保持質量優勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業軟件能力賦能中國半導體產業，其YMS系統已成為多家客戶提升產品競爭力的重要工具。

在晶圓制造過程中，制程偏差是導致良率損失的主要因素之一，其典型表現即為晶圓上Die的區域性集群失效。此類失效并非隨機分布，而是呈現出與特定制程弱點緊密相關的空間模式，例如由光刻熱點、CMP不均勻或熱應力集中所導致的失效環、邊緣帶或局部區塊。然而，一個更為隱蔽且嚴峻的挑戰在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個“受影響區”。該區域內的Die雖然未發生catastrophicfailure，其內部可能已產生參數漂移或輕微損傷，在常規的CP測試中，它們仍能滿足規格下限而呈現出“Pass”的結果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續封裝應力或終端應用的嚴苛環境下，早期失效的風險將明細高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規的良率分析已不足以應對。必須借助特定的空間識別算法，對晶圓測試圖譜進行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據此將失效區周圍一定范圍內的“PassDie”也定義為高風險單元并予以剔除。這一操作是構建高可靠性產品質量防線中至關重要的一環。 Mapping Over Ink處理后的數據完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計需求。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數據流，傳統手工轉換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統采用智能解析與清洗技術，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結構完整。系統支持批量歷史數據導入與實時測試流同步處理，無論數據來自ASL1000還是TR6850，均能統一轉化為可用于分析的標準數據集。在此基礎上，異常值被自動過濾，重復記錄被精確剔除，明顯提升數據可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數據特征，構建了這一高效可靠的數據預處理體系。Mapping Over Ink處理提升產品市場競爭力，降低客戶投訴率。江西晶圓PAT服務商

Mapping Over Ink處理減少人工復核負擔，提升質量控制效率。上海晶圓Mapping Inkless工具

在評估良率管理系統投入時，企業關注的不僅是初始采購成本，更是長期使用中的效率回報與服務保障。YMS系統提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權、必要定制、技術培訓及持續運維支持，確保部署后穩定運行與功能演進。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數據，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報價結構避免隱性收費，使預算規劃更可控。同時，系統內置的SYL/SBL自動計算與卡控、多維度良率分析及靈活報表導出功能，直接支撐質量決策效率提升。這種“一次投入、持續賦能”的模式，明顯優化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，始終以合理定價與高價值交付贏得客戶信賴。上海晶圓Mapping Inkless工具

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區的數碼、電腦行業中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發展奠定的良好的行業基礎，也希望未來公司能成為*****，努力為行業領域的發展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態度和不斷的完善創新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創佳績，一直以來，公司貫徹執行科學管理、創新發展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！