一套高效的良率管理系統開發方案，必須根植于真實生產場景的數據流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數據，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數據源頭的完整性與一致性。在此基礎上，系統構建標準化數據庫，實現對良率信息的統一分類與高效調用。分析層面，方案強調時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結合WAT、CP、FT參數變化，形成從現象到根因的完整證據鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關鍵控制點，實現預防性質量管理。同時，報表引擎支持按需生成周期報告，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費習慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業積累，將YMS方案打造為兼具實用性與擴展性的國產選擇。Mapping Over Ink處理技術適用于消費類至車規級全品類芯片，覆蓋廣泛應用場景。上海自動化Mapping Inkless系統定制

在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結果的重要載體，其數據完整性直接決定了良率分析的準確性與生產流程的可追溯性。然而在實際量產環境中，因硬件通信異常、軟件系統故障、產線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數據丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發生。這類數據異常不僅會導致當批晶圓的測試結果無法被正確解析，更會中斷生產信息鏈，使后續的封裝揀選、質量追溯與制程優化喪失依據，對整體產品良率與制程管控構成嚴峻挑戰。

針對這一行業共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實際測試場景出發，開發出一套高效、可靠的Mapping格式轉換解決方案，致力于從根本上保障數據流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統生成的原始Mapping數據，智能、精確地轉換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內的多種設備類型。通過這一轉換流程，用戶不僅能夠有效恢復因格式問題而“失效”的測試數據，避免晶圓重復測試帶來的成本與時間損失，更能構建起一條從測試到封裝的高可靠性數據通道，從而提升整體生產流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優化提供堅實的數據基石。 吉林PAT軟件Mapping Over Ink處理兼容主流Probe設備數據格式，支持跨平臺數據無縫對接。

在評估良率管理系統投入時，企業關注的不僅是初始采購成本，更是長期使用中的效率回報與服務保障。YMS系統提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權、必要定制、技術培訓及持續運維支持，確保部署后穩定運行與功能演進。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數據，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報價結構避免隱性收費，使預算規劃更可控。同時，系統內置的SYL/SBL自動計算與卡控、多維度良率分析及靈活報表導出功能，直接支撐質量決策效率提升。這種“一次投入、持續賦能”的模式，明顯優化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，始終以合理定價與高價值交付贏得客戶信賴。

當多臺測試設備同時產出異構數據時，傳統人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設備的spd、jdf、zip等格式數據統一解析、清洗并結構化存儲，構建一致的數據底座。在此基礎上，結合WAT、CP、FT等關鍵測試階段的參數變化，系統能夠揭示影響良率的深層關聯，輔助工程師精確調整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應周期。報表功能支持按需定制并導出多種辦公格式，提升跨部門協同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預防批量性質量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質取勝”的宗旨，致力于打造適配國產半導體生態的智能良率管理工具。高價值芯片生產依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除，保障關鍵器件可靠性。

當封測廠每日面對來自數十臺測試機臺的海量異構數據時，傳統手工匯總方式已難以滿足實時質量管控需求。YMS系統通過自動化流程，即時采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設備輸出的原始測試數據，剔除重復、缺失與異常記錄，構建高可信度的數據底座。標準化數據庫支持從時間軸追蹤良率波動，或聚焦晶圓特定區域識別系統性缺陷，結合WAT、CP、FT參數變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當某批次FT良率驟降時，系統可聯動CP數據判斷是否為封裝環節引入問題，縮短排查周期達數小時。圖表化界面與日報、周報、月報自動生成機制，使管理層能基于一致數據源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解，將YMS打造為數據驅動質量改進的關鍵工具。GDBC算法識別的聚類區域常指向設備或掩模問題，反饋工藝優化方向。新疆PAT平臺

Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規級場景，保障晶圓表面完整性。上海自動化Mapping Inkless系統定制

當封測廠同時運行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時，不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數據往往難以統一處理。YMS系統通過內置的多協議解析引擎，自動識別并適配各類測試平臺的數據結構，將異構原始數據轉換為標準化內部格式，消除因設備差異導致的信息割裂。模塊化接口設計確保新增設備可快速接入，無需重構系統架構。這種“即插即用”的兼容能力，使企業能集中管理全產線測試數據，避免為不同平臺維護多套分析流程。數據采集的穩定性與實時性由此得到保障，為后續良率分析奠定一致基礎。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS的平臺兼容性，支撐客戶在復雜設備環境中實現高效數據治理。上海自動化Mapping Inkless系統定制

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！