由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號(hào)的比特位信息，所以成為了衡量信號(hào)質(zhì)量的重要工具，眼圖測(cè)量有時(shí)侯就叫“信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”。此外，眼圖測(cè)量的結(jié)果是合格還是不合格，其判斷依據(jù)通常是相對(duì)于“模板（Mask）”而言的。模板規(guī)定了串行信號(hào)“1”電平的容限，“0”電平的容限，上升時(shí)間、下降時(shí)間的容限。所以眼圖測(cè)量有時(shí)侯又被稱為“模板測(cè)試（MaskTest）”。模板的形狀也各種各樣，通常的NRZ信號(hào)的模板如圖五和圖八藍(lán)色部分所示。在串行數(shù)據(jù)傳輸?shù)牟煌?jié)點(diǎn),眼圖的模板是不一樣的，所以在選擇模板時(shí)要注意具體的子模板類型。如果用發(fā)送端的模板來(lái)作為接收端眼圖模板，可能會(huì)一直碰模板。但象以太網(wǎng)信號(hào)、E1/T1的信號(hào)，不是NRZ碼形，其模板比較特別。當(dāng)有比特位碰到模板時(shí)，我們就認(rèn)為信號(hào)質(zhì)量不好，需要調(diào)試電路。有的產(chǎn)品要求100%不能碰模板，有的產(chǎn)品是允許碰模板的次數(shù)在一定的概率以內(nèi)。示波器中有測(cè)量參數(shù)可自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出碰到模板的次數(shù)。此外，根據(jù)“侵犯”模板的位置就能知道信號(hào)的哪方面有問(wèn)題從而指導(dǎo)調(diào)試。如圖九表明信號(hào)的問(wèn)題主要是下降沿太緩，圖十表明1電平和0電平有“塌陷”，可能是ISI問(wèn)題導(dǎo)致的。數(shù)字信號(hào)眼圖測(cè)試系統(tǒng)。解決方案眼圖測(cè)試

（3）真正意義的眼圖是一時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行疊加的：眼圖測(cè)量的根本目的是判斷該數(shù)據(jù)信號(hào)相對(duì)于其時(shí)鐘信號(hào)（可能是專門的時(shí)鐘通道也可能是內(nèi)嵌的時(shí)鐘信息）的建立/保持時(shí)間窗口、采樣時(shí)的信號(hào)幅度等參數(shù)滿足標(biāo)志要求，所以眼圖測(cè)量一定要以其參考時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行信號(hào)疊加才有意義。有時(shí)用數(shù)據(jù)信號(hào)自身的邊沿觸發(fā)進(jìn)行自然疊加也能形成類似眼圖的形狀，但這不是真正意義上的眼圖。

（4）低速信號(hào)眼圖：很多速率不大太高總線也可以做眼圖測(cè)量，但由于數(shù)據(jù)比特較寬，上升時(shí)間相對(duì)于數(shù)據(jù)比特寬度占的比例很小，所以一些低速數(shù)字信號(hào)的眼圖可能比較方正或者比較規(guī)整，看起來(lái)不太像眼睛，但從物理含義上說(shuō)這仍然是一種眼圖。 解決方案眼圖測(cè)試眼圖測(cè)試分析系統(tǒng)參數(shù)？

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

Keysight(是德科技)、Agilent（安捷倫）、羅德與施瓦茨（R&S）、Tektronix、等海外有名品牌儀器儀表，其中包括：綜合測(cè)試儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、噪聲源、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、示波器、音頻分析儀等品質(zhì)電子儀器的銷售、租賃、維修、保養(yǎng)、校準(zhǔn)、等項(xiàng)目，是綜合技術(shù)服務(wù)型公司。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室矩陣開(kāi)關(guān)，信號(hào)完整性測(cè)試、多端口矩陣測(cè)試、HDMI測(cè)試、USB測(cè)試、DDR測(cè)試等方面測(cè)試服務(wù)。

（2）波形需要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行疊加：眼圖是對(duì)多個(gè)波形或比特的疊加，但這個(gè)疊加不是任意的，通常要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)。對(duì)于很多并行總線來(lái)說(shuō)，由于大部分都有專門的時(shí)鐘傳輸通道，所以通常會(huì)以時(shí)鐘通道為觸發(fā)，對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的波形進(jìn)行疊加形成眼圖，一般的示波器都具備這個(gè)功能。而對(duì)于很多高速的串行總線信號(hào)來(lái)說(shuō)，由于時(shí)鐘信號(hào)嵌入在數(shù)據(jù)流中，所以需要測(cè)量設(shè)備有相應(yīng)的時(shí)鐘恢復(fù)功能（可能是硬件的也可能是軟件的）能夠先從數(shù)據(jù)流中提取時(shí)鐘，然后以這個(gè)時(shí)鐘為基準(zhǔn)對(duì)數(shù)據(jù)比特進(jìn)行疊加才能形成眼圖。因此，很多高速串行數(shù)字信號(hào)的眼圖測(cè)試通常需要該示波器或測(cè)量設(shè)備有相應(yīng)的時(shí)鐘恢復(fù)功能。一種眼圖測(cè)試方法,系統(tǒng),設(shè)備及介質(zhì)？

    對(duì)于DDR源同步操作，必然要求DQS選通信號(hào)與DQ數(shù)據(jù)信號(hào)有一定建立時(shí)間tDS和保持時(shí)間tDH要求，否則會(huì)導(dǎo)致接收鎖存信號(hào)錯(cuò)誤，DDR4信號(hào)速率達(dá)到了，單一比特位寬為，時(shí)序裕度也變得越來(lái)越小，傳統(tǒng)的測(cè)量時(shí)序的方式在短時(shí)間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值，無(wú)法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動(dòng)帶來(lái)的對(duì)時(shí)序惡化的貢獻(xiàn)，也很難準(zhǔn)確反映隨機(jī)抖動(dòng)Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動(dòng)因素，基于雙狄拉克模型分解抖動(dòng)和噪聲的隨機(jī)性和確定性成分，外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會(huì)在規(guī)范中明確了在DDR4中測(cè)試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓，確保滿足在Vcent周圍Tdivw時(shí)間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 一種眼圖示波器系統(tǒng)及眼圖測(cè)試方法？解決方案眼圖測(cè)試

眼圖測(cè)試及其疑難問(wèn)題探討？解決方案眼圖測(cè)試

數(shù)字信號(hào)抖動(dòng)的成因

 抖動(dòng)反映的是數(shù)字信號(hào)偏離其理想位置的時(shí)間偏差。高頻數(shù)字信號(hào)的比特周期都非常短，很小的抖動(dòng)都會(huì)造成信號(hào)采樣位置電平的變化，所以高頻數(shù)字信號(hào)對(duì)于抖動(dòng)都有嚴(yán)格要求。高速的串行數(shù)字信號(hào)對(duì)抖動(dòng)的要求更加嚴(yán)格，同時(shí)由于其傳輸路徑比較復(fù)雜，中間可能會(huì)受到各種因素的影響，所以其總體抖動(dòng)也可能是由不同的抖動(dòng)分量組成的，而且不同分量對(duì)于系統(tǒng)性能的影響也不一樣。因此，很多更高速率的串行信號(hào)測(cè)試在中，出來(lái)知道抖動(dòng)的均方根植或者峰峰值以外，還會(huì)要求對(duì)抖動(dòng)的各個(gè)成分進(jìn)行分解和分析。 解決方案眼圖測(cè)試