對(duì)于VR設(shè)備中***采用的短焦pancake透鏡系統(tǒng)，相位差測(cè)量?jī)x的作用至關(guān)重要。此類(lèi)系統(tǒng)由多片精密透鏡粘合而成，任何一片透鏡的面形誤差、材料內(nèi)部應(yīng)力或膠合層的微小厚度偏差都會(huì)經(jīng)過(guò)復(fù)雜光路的放大，**終導(dǎo)致嚴(yán)重的像散、場(chǎng)曲和畸變，引發(fā)用戶(hù)眩暈感。該儀器能夠?qū)纹哥R乃至整個(gè)鏡組的光學(xué)總波前進(jìn)行精確測(cè)量，清晰量化每一處缺陷對(duì)系統(tǒng)調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）的影響，指導(dǎo)完成精密的裝調(diào)與像差補(bǔ)償，確保合成后的光學(xué)系統(tǒng)達(dá)到極高的分辨率與視覺(jué)保真度要求。提供透過(guò)率，偏光度，貼合角，Re， Rth等測(cè)試項(xiàng)目。福州相位差相位差測(cè)試儀供應(yīng)商

相位差測(cè)量?jī)x在OLED行業(yè)發(fā)揮著至關(guān)重要的質(zhì)量管控作用，其主要應(yīng)用于對(duì)OLED發(fā)光層、基板以及封裝薄膜的微觀厚度與均勻性進(jìn)行高精度非接觸式測(cè)量。OLED器件的性能、壽命和顯示均勻性極度依賴(lài)于各功能納米級(jí)薄膜厚度的精確控制。該設(shè)備基于高分辨率的光學(xué)干涉原理，通過(guò)分析入射光與反射光形成的干涉條紋相位差，能夠精確重構(gòu)出膜層的三維厚度分布圖。這種無(wú)損檢測(cè)方式完美規(guī)避了接觸式測(cè)厚儀可能對(duì)脆弱有機(jī)材料造成的損傷，為生產(chǎn)工藝的優(yōu)化和產(chǎn)品一致性保障提供了可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。武漢光學(xué)膜貼合角相位差測(cè)試儀生產(chǎn)廠家可解析Re為1nm以?xún)?nèi)基膜的殘留相位差。

穆勒矩陣測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)深入的偏振分析，可以完整表征光學(xué)元件的偏振特性。相位差測(cè)量作為其中的關(guān)鍵參數(shù)，反映了樣品的雙折射和旋光特性。這種測(cè)試對(duì)復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)尤為重要，如VR頭顯中的復(fù)合光學(xué)模組。當(dāng)前的快照式穆勒矩陣測(cè)量技術(shù)可以在毫秒級(jí)時(shí)間內(nèi)完成全偏振態(tài)分析，很大程度提高了檢測(cè)效率。在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，穆勒矩陣測(cè)試能夠分析組織的微觀結(jié)構(gòu)特征，為疾病診斷提供新方法。此外，該方法還可用于評(píng)估光學(xué)元件在不同入射角度下的性能變化，為光學(xué)設(shè)計(jì)提供更深入的數(shù)據(jù)支持

相位差測(cè)量技術(shù)正在推動(dòng)新型光學(xué)材料的研究進(jìn)展。對(duì)于超構(gòu)表面、光子晶體等人工微結(jié)構(gòu)材料，其異常的相位調(diào)控能力需要納米級(jí)精度的測(cè)量手段來(lái)驗(yàn)證。蘇州千宇光學(xué)自主研發(fā)的相位差測(cè)量?jī)x，正面位相差讀數(shù)分辨達(dá)到0.001nm，厚度方向標(biāo)準(zhǔn)位相差讀數(shù)分辨率達(dá)到0.001nm，RTH厚度位相差精度達(dá)到1nm。科研人員將相位差測(cè)量?jī)x與近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)了對(duì)亞波長(zhǎng)尺度下局域相位分布的精確測(cè)繪。這種技術(shù)特別適用于驗(yàn)證超構(gòu)透鏡的相位分布設(shè)計(jì)，為開(kāi)發(fā)輕薄型平面光學(xué)元件提供了重要的實(shí)驗(yàn)支撐。在拓?fù)涔庾訉W(xué)研究中，相位差測(cè)量更是揭示光學(xué)拓?fù)鋺B(tài)的關(guān)鍵表征手段。
相位差測(cè)量?jī)x通過(guò)精確測(cè)定光程差，可直接計(jì)算出液晶盒的精確厚度。

偏光片軸角度測(cè)試儀通過(guò)相位差測(cè)量確定偏光片的透射軸方向，是顯示器生產(chǎn)線的關(guān)鍵檢測(cè)設(shè)備。采用旋轉(zhuǎn)分析器法的測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量精度可達(dá)0.02度，完全滿(mǎn)足高要求顯示產(chǎn)品的工藝要求。這種測(cè)試不僅能確保偏光片貼附角度的準(zhǔn)確性，還能發(fā)現(xiàn)材料本身的軸偏缺陷。在柔性O(shè)LED生產(chǎn)中，軸角度測(cè)試需要特別考慮彎曲狀態(tài)下的測(cè)量基準(zhǔn)問(wèn)題。當(dāng)前的機(jī)器視覺(jué)技術(shù)結(jié)合深度學(xué)習(xí)算法，實(shí)現(xiàn)了偏光片貼附過(guò)程的實(shí)時(shí)角度監(jiān)控，很大程度提高了生產(chǎn)良率。此外，該方法還可用于評(píng)估偏光片在長(zhǎng)期使用后的性能變化，為可靠性研究提供數(shù)據(jù)支持在柔性光學(xué)膜研發(fā)中，測(cè)試儀可評(píng)估彎曲狀態(tài)下的軸向穩(wěn)定性，保障產(chǎn)品可靠性。蘇州快慢軸角度相位差測(cè)試儀研發(fā)

搭載多波段光譜儀，檢測(cè)項(xiàng)目涵蓋偏光片各光學(xué)性能。福州相位差相位差測(cè)試儀供應(yīng)商

配向角測(cè)試儀利用相位差測(cè)量技術(shù)評(píng)估液晶盒中配向?qū)拥娜∠蛱匦浴Ｍㄟ^(guò)分析偏振光經(jīng)過(guò)配向?qū)雍蟮南辔蛔兓梢跃_計(jì)算液晶分子的預(yù)傾角。這種測(cè)量對(duì)TN、VA等液晶顯示模式尤為重要，因?yàn)榕湎蚪堑奈⑿∑疃紩?huì)導(dǎo)致顯示均勻性問(wèn)題。當(dāng)前研發(fā)的全自動(dòng)配向角測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)平臺(tái)和實(shí)時(shí)圖像分析，測(cè)量重復(fù)性?xún)?yōu)于0.05度。在柔性顯示技術(shù)中，這種非接觸式測(cè)量方法能夠有效評(píng)估彎曲狀態(tài)下配向?qū)拥姆€(wěn)定性，為新型顯示技術(shù)開(kāi)發(fā)提供重要數(shù)據(jù)支持福州相位差相位差測(cè)試儀供應(yīng)商

千宇光學(xué)專(zhuān)注于偏振光學(xué)應(yīng)用、光學(xué)解析、光電探測(cè)器和光學(xué)檢測(cè)儀器的研發(fā)與制造。主要事業(yè)涵蓋光電材料、光學(xué)顯示、半導(dǎo)體、薄膜橡塑、印刷涂料等行業(yè)。 產(chǎn)品覆蓋LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光學(xué)測(cè)試需求，并于國(guó)內(nèi)率先研發(fā)相位差測(cè)試儀打破國(guó)外設(shè)備壟斷，目前已廣泛應(yīng)用于全國(guó)光學(xué)頭部品牌及其制造商

千宇光學(xué)研發(fā)中心由光學(xué)博士團(tuán)隊(duì)組成，掌握自主的光學(xué)檢測(cè)技術(shù), 測(cè)試結(jié)果可溯源至國(guó)家計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。與國(guó)家計(jì)量院、華中科技大學(xué)、東南大學(xué)、同濟(jì)大學(xué)等高校建立產(chǎn)學(xué)研深度合作。千宇以提供高價(jià)值產(chǎn)品及服務(wù)為發(fā)展原動(dòng)力， 通過(guò)持續(xù)輸出高速度、高精度、高穩(wěn)定的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)，優(yōu)化產(chǎn)品品質(zhì)，成為精密光學(xué)產(chǎn)業(yè)有價(jià)值的合作伙伴。