多功能激光干涉儀：主要適用于測量光脈沖、電脈沖以及磁脈沖的信號，如測量光強和電壓隨時間變化的波形。因為它的響應速度極快，是微微秒(Ps)量級。所以，它非常適用于超快變電場和超短光脈沖信號變化的測量。已有技術主要有兩個方面。一是普通干涉儀，如一九八七年機械工業出版社出版的“剪切干涉儀及其應用”一書中描述的干涉儀，可用來做多樣的測量工作，但它既不能像示波器一樣示波顯示電信號的波形，也不能示波顯示光信號、磁信號的波形。雖然能示波顯示電信號和光信號的波形，但不能示波顯示其他如磁信號的波形等。而且，這些測量系統內不含有干涉系統。激光干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。濟南激光干涉儀哪個牌子好

激光干涉儀產品具有測量精度高、測量速度快、比較高測速下分辨率高、測量范圍大等優點。通過與不同的光學組件結合，可以實現對直線度、垂直度、角度、平面度、平行度等多種幾何精度的測量。在相關軟件的配合下，還可以對數控機床進行動態性能檢測，可以進行機床振動測試與分析，滾珠絲桿的動態特性分析，驅動系統的響應特性分析，導軌的動態特性分析等，具有極高的精度和效率，為機床誤差修正提供依據。激光干涉儀是以光波為載體，以光波波長為單位的一種計量測試方法，是公認的高精度、高靈敏度的檢測手段，在制造領域應用普遍。蘇州數控軸垂直度激光干涉儀維護激光干涉儀的應用：幾何精度檢測。

激光干涉儀常見故障及解決方法：開機無顯示：1、是否接上電源打開開關。2、顯示器是否切換到BNC模式。視場不完整：1、標準鏡頭是否旋到位。2、標準鏡頭星點是否與尋星窗口中間的黑點重合。高度調節不明顯：檢查高度調節旋鈕是否鎖緊。干涉條紋暗：調節干涉儀上的亮度調節旋鈕。干涉條紋亂：檢查標準鏡頭與被測透鏡表面是否干凈。被測鏡片星點像找不到：調整鏡片的中心，看鏡片是否放置的傾斜。條紋亮暗閃動：調節標準鏡頭的圓形圖像。

激光干涉儀在立式配置下，樣品的放置，夾持和調整更方便，提高了測試效率。立式架構整機占地更小；整個干涉腔，處于穩定的框架結構下，這樣對抗振要求更低，可省去昂貴和龐大的抗震平臺。立式配置對于某些特殊應用的特殊優勢，比如高精度曲率半徑測量，大口徑平面樣品的拼接測量。對于很多超高精度測量，要求樣品表面保持和工作狀態一致的條件下測量。工業現場測試環境下，立式配置下，樣品的夾持放置，更有效率，更加穩定。在某些應用場合，基于測試效率，樣品夾持，測試方式或精度的要求，立式配置會更有優勢。激光干涉儀是檢定數控機床、坐標測量機位置精度的理想工具。

雙頻激光干涉儀：在氦氖激光器上，加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應和頻率牽引效應,激光器產生1和2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經1/4波片后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經分光鏡分為兩路。一路經偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經偏振分光鏡后又分為兩路：一路成為只含有f1的光束,另一路成為只含有f2的光束。當可動反射鏡移動時,含有f2的光束經可動反射鏡反射后成為含有f2±Δf的光束，Δf是可動反射鏡移動時因多普勒效應產生的附加頻率,正負號表示移動方向(多普勒效應是奧地利人C.J.多普勒提出的，即波的頻率在波源或接受器運動時會產生變化)。這路光束和由固定反射鏡反射回來只含有f1的光的光束經偏振片2后會合成為f1-(f2±Δf）的測量光束。激光干涉儀可以進導軌的動態特性分析等。杭州激光干涉儀供應商

激光干涉儀的測量精度高：以激光干涉技術為關鍵。濟南激光干涉儀哪個牌子好

隨著數控機床應用的普及，采用激光干涉儀對數控機床進行定位精度檢測已經成為目前公認的高效、高精度的檢測方法。激光干涉儀測量原理：激光器發射單一頻率光束射入線性干涉鏡，然后分成兩道光束，一道光束(參考光束)射向連接分光鏡的反射鏡，而第二道透射光束(測量光束)則通過分光鏡射入第二個反射鏡，這兩道光束再反射回到分光鏡，重新匯聚之后返回激光器，其中會有一個探測器監控兩道光束之間的干涉。若光程差沒有變化時，探測器會在相長性和相消性干涉的兩極之間找到穩定的信號。濟南激光干涉儀哪個牌子好