Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進行智能分析、處理，并直接驅(qū)動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動——將不良品標記出來，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點是預見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。

上海偉諾信息科技有限公司作為半導體測試領(lǐng)域的解決方案供應商，致力于為國內(nèi)外半導體設(shè)計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，旨在通過多重維度的智能篩選，構(gòu)筑起一道安全的質(zhì)量防線，有效地提升用戶的晶圓測試質(zhì)量與產(chǎn)品可靠性。 Mapping Over Ink處理后的數(shù)據(jù)完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計需求。上海MappingOverInk處理服務商

每日晨會前臨時整理良率報表，常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預設(shè)模板自動生成日報、周報、月報，內(nèi)容涵蓋良率趨勢、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標，并支持一鍵導出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報，質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘，客戶審計則接收標準化PDF文檔。自動化流程消除手工匯總誤差，確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報告生成時間從數(shù)小時壓縮至分鐘級，大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表工具，讓數(shù)據(jù)真正服務于決策閉環(huán)。河南可視化PATMapping Over Ink處理兼容主流Probe設(shè)備數(shù)據(jù)格式，支持跨平臺數(shù)據(jù)無縫對接。

在半導體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測試環(huán)境中，人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，實時匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與清洗，消除因格式差異導致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對，支持從批次到晶圓級別的精細監(jiān)控。當某一批次良率驟降時，系統(tǒng)可迅速調(diào)取對應區(qū)域的缺陷熱力圖，并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，輔助工程師在數(shù)小時內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動預警，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報表一鍵生成并支持多格式導出，滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科技有限公司憑借對封測與制造場景的深入理解，持續(xù)優(yōu)化YMS的數(shù)據(jù)驅(qū)動能力。

當封測廠同時運行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時，不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎，自動識別并適配各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標準化內(nèi)部格式，消除因設(shè)備差異導致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計確保新增設(shè)備可快速接入，無需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力，使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線測試數(shù)據(jù)，避免為不同平臺維護多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實時性由此得到保障，為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺兼容性，支撐客戶在復雜設(shè)備環(huán)境中實現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。STACKED算法適用于多層結(jié)構(gòu)失效分析，解析層間關(guān)聯(lián)缺陷的分布特征。

因測試數(shù)據(jù)錯誤導致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測或錯誤工藝調(diào)整，造成材料與時間雙重浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗，自動剔除異常記錄，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時，系統(tǒng)會標記該記錄而非直接納入統(tǒng)計，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗證，進一步排除孤立異常點。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上，明顯降低返工率和報廢風險。這種前置質(zhì)量控制機制，將成本節(jié)約從“事后補救”轉(zhuǎn)向“事前預防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴謹?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學性與可執(zhí)行性。Mapping Inkless輸出數(shù)據(jù)可直接用于客戶交付，支持快速驗證。陜西晶圓Mapping Inkless軟件

Mapping Over Ink處理減少人工復核負擔，提升質(zhì)量控制效率。上海MappingOverInk處理服務商

在高頻測試場景下，重復提交或設(shè)備通信中斷常導致數(shù)據(jù)冗余或缺失，直接影響良率計算準確性。YMS系統(tǒng)通過時間戳、測試編號、晶圓ID等關(guān)鍵字段自動掃描數(shù)據(jù)集，識別完全重復或部分重疊的記錄，并予以合并或剔除；同時檢測關(guān)鍵參數(shù)字段是否為空，快速定位缺失節(jié)點并提示修正。該機制嵌入數(shù)據(jù)清洗流程，與異常值過濾協(xié)同工作，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)集完整、干凈、無偏。例如，當某批次CP測試因機臺故障中斷后重跑，系統(tǒng)可自動識別并保留有效片段，避免重復計數(shù)拉低整體良率。這種自動化質(zhì)量控制大幅降低人工核查負擔，提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)完整性視為YMS的關(guān)鍵能力之一，持續(xù)強化其在復雜生產(chǎn)環(huán)境中的魯棒性。上海MappingOverInk處理服務商

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導下，全體上下，團結(jié)一致，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！