在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結果的重要載體，其數據完整性直接決定了良率分析的準確性與生產流程的可追溯性。然而在實際量產環境中，因硬件通信異常、軟件系統故障、產線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數據丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發生。這類數據異常不僅會導致當批晶圓的測試結果無法被正確解析，更會中斷生產信息鏈，使后續的封裝揀選、質量追溯與制程優化喪失依據，對整體產品良率與制程管控構成嚴峻挑戰。

針對這一行業共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實際測試場景出發，開發出一套高效、可靠的Mapping格式轉換解決方案，致力于從根本上保障數據流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統生成的原始Mapping數據，智能、精確地轉換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內的多種設備類型。通過這一轉換流程，用戶不僅能夠有效恢復因格式問題而“失效”的測試數據，避免晶圓重復測試帶來的成本與時間損失，更能構建起一條從測試到封裝的高可靠性數據通道，從而提升整體生產流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優化提供堅實的數據基石。 Mapping Inkless實現無物理噴墨的邏輯剔除，避免傳統標記對先進封裝的干擾。山東半導體PAT平臺

晶圓邊緣區域良率持續偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統在完成stdf、log等原始數據清洗后，依據晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現中心、過渡區與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區域的表現，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現象是偶發異常還是系統性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優化措施從“整體調整”轉向“精確干預”，明顯提升工藝調試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。青海自動化GDBCPAT模塊與GDBC算法協同區分隨機噪聲與系統性缺陷，提升篩選精確度。

良率波動若只憑單點數據判斷，容易誤判趨勢。YMS系統將每日、每周、每月的測試結果按時間序列歸檔，生成連續良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現變化規律。當某產品線周良率從98%驟降至95%時，系統不僅高亮異常區間，還可聯動同期WAT參數漂移或設備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監控關鍵產品，工程師則可深入分析小時級波動以優化機臺參數。這種動態追蹤能力，使質量干預從事后追溯轉向事中預警。結合靈活報表工具，時間維度分析結果可一鍵導出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現精細化過程管控。

晶圓級良率監控要求系統能處理高密度、高維度的測試數據流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設備，實時匯聚原始測試結果并完成結構化清洗，消除人工干預帶來的延遲與誤差。系統以圖表形式直觀呈現晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環節的均勻性問題。當某批次CP良率異常時，可聯動WAT參數變化追溯前道工藝漂移，實現從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導出，滿足從產線到高管的信息消費習慣。這種深度可視化與智能關聯分析能力，使良率管理從經驗驅動轉向數據驅動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質增效的有效工具。Mapping Over Ink處理算法組合可根據產品類型靈活配置，適配消費級至前沿芯片需求。

良率管理的目標是將海量測試數據轉化為可執行的工藝洞察。YMS系統通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數據，完成端到端的數據清洗與整合，消除人工干預帶來的誤差與延遲。在此基礎上，系統構建標準化數據庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內邊緣區域良率驟降是否與刻蝕參數漂移相關。結合WAT、CP、FT數據的交叉驗證，可區分設計缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計算與實時卡控，為關鍵指標設置動態防線。周期性報告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導出，使管理層能基于一致數據源快速決策。這種從數據到行動的閉環機制，明顯提升了生產過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導體軟件生態為使命，持續推動YMS成為行業提質增效的基礎設施。Mapping Over Ink處理提升產品市場競爭力，降低客戶投訴率?？梢暬疢appingOverInk處理的目的

Mapping Over Ink處理提升車規級芯片的長期可靠性，滿足嚴苛環境要求。山東半導體PAT平臺

半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據，完成統一解析與結構化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區域對比分析，還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據；靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的功能完整性與行業適配性。山東半導體PAT平臺

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