面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數據流，傳統手工轉換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統采用智能解析與清洗技術，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結構完整。系統支持批量歷史數據導入與實時測試流同步處理，無論數據來自ASL1000還是TR6850，均能統一轉化為可用于分析的標準數據集。在此基礎上，異常值被自動過濾，重復記錄被精確剔除，明顯提升數據可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數據特征，構建了這一高效可靠的數據預處理體系。Mapping Over Ink處理提升產品市場競爭力，降低客戶投訴率。中國澳門半導體MappingOverInk處理服務

晶圓制造環節的良率波動直接影響整體產出效率，YMS系統通過全流程數據治理提供有力支撐。系統自動采集并解析來自主流測試設備的多源異構數據，建立標準化數據庫，實現對晶圓批次、區域乃至單點良率的精細化監控。結合WAT、CP、FT等關鍵測試數據的變化趨勢，系統可快速鎖定影響良率的關鍵因素，指導工藝參數調優。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關鍵指標，輔助工程師高效決策。同時，系統支持按模板生成周期性報告，并導出為常用辦公格式，滿足生產與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產半導體軟件生態為使命，其YMS產品正持續助力制造企業邁向高質量、高效率的發展新階段。中國澳門半導體MappingOverInk處理服務Mapping Over Ink處理嚴格遵循AECQ標準進行風險判定，確保車規級芯片可靠性。

芯片制造過程中，良率波動若不能及時識別，可能導致整批產品報廢。YMS系統通過自動采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測試數據，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。標準化數據庫支持從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常點。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，可區分是設計問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節點，實現預防性質量干預。靈活報表工具按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS系統，助力芯片制造企業構建自主可控的質量管理能力。

ZPAT 是一種基于統計學的芯片篩選技術，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產品的可靠性。在實際的應用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應對日益嚴苛的“零缺陷”質量挑戰，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數超出統計控制界限的異常芯片，從而構筑起一道基于動態統計過程控制的智能質量防線。 Mapping Over Ink處理推動封測環節向預測性質量演進，實現主動風險管理。

在評估良率管理系統投入時，企業關注的不僅是初始采購成本，更是長期使用中的效率回報與服務保障。YMS系統提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權、必要定制、技術培訓及持續運維支持，確保部署后穩定運行與功能演進。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數據，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報價結構避免隱性收費，使預算規劃更可控。同時，系統內置的SYL/SBL自動計算與卡控、多維度良率分析及靈活報表導出功能，直接支撐質量決策效率提升。這種“一次投入、持續賦能”的模式，明顯優化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，始終以合理定價與高價值交付贏得客戶信賴。Mapping Over Ink處理系統在質量事件發生時自動觸發設備維護工單，實現預防性維護。中國澳門半導體MappingOverInk處理服務

Mapping Over Ink處理推動數據驅動決策，取代經驗式質量判斷。中國澳門半導體MappingOverInk處理服務

為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環節中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統電性測試的盲區。一顆芯片可能電性參數測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續的封裝應力或終端應用中有極高早期失效的風險，是產品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關鍵問題：一是通過數據融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現從質量判定到生產執行的自動化，有效提升品質與效率。中國澳門半導體MappingOverInk處理服務

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優秀人才，集企業奇思，創經濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區的數碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業的方向，質量是企業的生命，在公司有效方針的領導下，全體上下，團結一致，共同進退，**協力把各方面工作做得更好，努力開創工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結經驗，才能繼續上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！