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為解決加熱盤長期使用后的溫度漂移問題，國瑞熱控開發**校準模塊，成為半導體生產線的精度保障利器。模塊采用鉑電阻與熱電偶雙傳感設計，測溫精度達 ±0.05℃，可覆蓋室溫至 800℃全溫度范圍，適配不同材質加熱盤的校準需求。配備便攜式數據采集終端，支持實時顯示溫度...

面向先進封裝 Chiplet 技術需求，國瑞熱控**加熱盤以高精度溫控支撐芯片互聯工藝。采用鋁合金與陶瓷復合基材，加熱面平面度誤差小于 0.02mm，確保多芯片堆疊時受熱均勻。內部采用微米級加熱絲布線，實現 1mm×1mm 精細溫控分區，溫度調節范圍覆蓋室溫至...

針對晶圓清洗后的烘干環節，國瑞熱控**加熱盤以潔凈高效的特性適配嚴苛需求。產品采用高純不銹鋼基材，表面經電解拋光與鈍化處理，粗糙度 Ra 小于 0.2μm，減少水分子附著與雜質殘留。加熱面采用蜂窩狀導熱結構，使熱量均勻分布，晶圓表面溫度差控制在 ±2℃以內，避...

國瑞熱控深耕半導體加熱盤國產化研發，針對進口設備的技術壁壘與供應風險，推出全套替代方案。方案涵蓋6英寸至12英寸不同規格加熱盤，材質包括鋁合金、氮化鋁陶瓷等，可直接替換Kyocera、CoorsTek等國際品牌同型號產品，且在溫度均勻性、控溫精度等關鍵指標上達...

國瑞熱控推出半導體加熱盤**溫度監控軟件，實現加熱過程的數字化管理與精細控制。軟件具備實時溫度顯示功能，可通過圖表直觀呈現加熱盤各區域溫度變化曲線，支持多臺加熱盤同時監控，方便生產線集中管理。內置溫度數據存儲與導出功能，可自動記錄加熱過程中的溫度參數，存儲時間...

針對 12 英寸及以上大尺寸晶圓的制造需求，國瑞熱控大尺寸半導體加熱盤以創新結構設計實現高效溫控。產品采用多模塊拼接式結構，單模塊加熱面積可達 1500cm2，通過標準化接口可靈活組合成更大尺寸加熱系統，適配不同產能的生產線需求。每個模塊配備**溫控單元，通過...

依托強大的研發與制造能力，國瑞熱控提供全流程半導體加熱盤定制服務，滿足特殊工藝與設備的個性化需求?？筛鶕蛻籼峁┑膱D紙與參數，定制圓形、方形等特殊形狀加熱盤，尺寸覆蓋 4 英寸至 18 英寸晶圓規格。材質可選擇鋁合金、氮化鋁陶瓷、因瓦合金等多種類型，加熱方式支...

借鑒空間站 “雙波長激光加熱” 原理，國瑞熱控開發半導體激光加熱盤，適配極端高溫材料制備。采用氮化鋁陶瓷基體嵌入激光吸收層，表面可承受 3000℃以上局部高溫，配合半導體激光與二氧化碳激光協同加熱，實現 “表面強攻 + 內部滲透” 的加熱效果。加熱區域直徑可在...

針對碳化硅襯底生長的高溫需求，國瑞熱控**加熱盤采用多加熱器分區布局技術，**溫度梯度可控性差的行業難題。加熱盤主體選用耐高溫石墨基材，表面噴涂碳化硅涂層，在 2200℃高溫下仍保持結構穩定，熱導率達 180W/mK，適配 PVT 法、TSSG 法等主流生長工...

針對等離子體刻蝕環境的特殊性，國瑞熱控配套加熱盤采用藍寶石覆層與氮化鋁基底的復合結構，表面硬度達莫氏 9 級，可耐受等離子體長期轟擊而無材料脫落。加熱盤內部嵌入鉬制加熱絲，經后嵌工藝固定，避免高溫下電極氧化影響加熱性能，工作溫度范圍覆蓋室溫至 500℃，控溫精...

國瑞熱控針對硒化銦等二維半導體材料制備需求，開發**加熱盤適配 “固 - 液 - 固” 相變生長工藝。采用高純不銹鋼基體加工密封腔體，內置銦原子蒸發溫控模塊，可精細控制銦蒸汽分壓，確保硒與銦原子比穩定在 1:1。加熱面溫度均勻性控制在 ±0.5℃，升溫速率可低...

針對車載半導體高可靠性需求，國瑞熱控測試加熱盤適配 AEC-Q100 標準。采用**級鋁合金基材，通過 - 55℃至 150℃高低溫循環測試 5000 次無變形，加熱面平整度誤差小于 0.03mm。溫度調節范圍覆蓋 - 40℃至 200℃，升降溫速率達 30℃...

借鑒空間站 “雙波長激光加熱” 原理，國瑞熱控開發半導體激光加熱盤，適配極端高溫材料制備。采用氮化鋁陶瓷基體嵌入激光吸收層，表面可承受 3000℃以上局部高溫，配合半導體激光與二氧化碳激光協同加熱，實現 “表面強攻 + 內部滲透” 的加熱效果。加熱區域直徑可在...

國瑞熱控推出加熱盤節能改造方案，針對存量設備能耗高問題提供系統升級。采用石墨烯導熱涂層技術提升熱傳導效率，配合智能溫控算法優化加熱功率輸出，使單臺設備能耗降低 20% 以上。改造內容包括加熱元件更換、隔熱層升級與控制系統迭代，保留原有設備主體結構，改造成本*為...

國瑞熱控半導體測試用加熱盤，專為芯片性能測試環節的溫度環境模擬設計，可精細復現芯片工作時的溫度條件。設備溫度調節范圍覆蓋 - 40℃至 150℃，支持快速升溫和降溫，速率分別達 25℃/ 分鐘和 20℃/ 分鐘，能模擬不同工況下的溫度變化。加熱盤表面采用柔性導...

為解決加熱盤長期使用后的溫度漂移問題，國瑞熱控開發**校準模塊，成為半導體生產線的精度保障利器。模塊采用鉑電阻與熱電偶雙傳感設計，測溫精度達 ±0.05℃，可覆蓋室溫至 800℃全溫度范圍，適配不同材質加熱盤的校準需求。配備便攜式數據采集終端，支持實時顯示溫度...

針對半導體載板制造中的溫控需求，國瑞熱控**加熱盤以高穩定性適配載板鉆孔、電鍍等工藝。采用不銹鋼基材經硬化處理，表面硬度達 HRC50 以上，耐受載板加工過程中的機械沖擊無變形。加熱元件采用蛇形分布設計，加熱面溫度均勻性達 ±1℃，溫度調節范圍 40℃-180...

國瑞熱控針對硒化銦等二維半導體材料制備需求，開發**加熱盤適配 “固 - 液 - 固” 相變生長工藝。采用高純不銹鋼基體加工密封腔體，內置銦原子蒸發溫控模塊，可精細控制銦蒸汽分壓，確保硒與銦原子比穩定在 1:1。加熱面溫度均勻性控制在 ±0.5℃，升溫速率可低...

國瑞熱控氮化鋁陶瓷加熱盤以 99.5% 高純氮化鋁為基材，通過干壓成型與 1800℃高溫燒結工藝制成，完美適配半導體高溫工藝需求。其熱導率可達 220W/mK，熱膨脹系數* 4.03×10??/℃，與硅晶圓熱特性高度匹配，有效避免高溫下因熱應力導致的晶圓翹曲。...

國瑞熱控針對離子注入后雜質***工藝，開發**加熱盤適配快速熱退火需求。采用氮化鋁陶瓷基材，熱導率達 200W/mK，熱慣性小，升溫速率達 60℃/ 秒，可在幾秒內將晶圓加熱至 1000℃，且降溫速率達 40℃/ 秒，減少熱預算對晶圓的影響。加熱面采用激光打孔...

針對原子層沉積工藝對溫度的嚴苛要求，國瑞熱控 ALD **加熱盤采用多分區溫控設計，通過仿真優化加熱絲布局，確保表面溫度分布均勻性符合精密制程標準。設備溫度調節范圍覆蓋室溫至 600℃，升溫速率可達 25℃/ 分鐘，搭配鉑電阻傳感器實現 ±0.1℃的控溫精度，...

國瑞熱控針對半導體量子點制備需求，開發**加熱盤適配膠體化學合成工藝。采用聚四氟乙烯密封腔體與不銹鋼加熱基體復合結構，耐有機溶劑腐蝕，且無金屬離子溶出污染量子點溶液。內置高精度溫度傳感器，測溫精度達 ±0.1℃，溫度調節范圍 25℃-300℃，支持 0.1℃/...

國瑞熱控封裝測試**加熱盤聚焦半導體后道工藝需求，采用輕量化鋁合金材質，通過精密加工確保加熱面平整度誤差小于 0.05mm，適配不同尺寸封裝器件的測試需求。加熱元件采用片狀分布設計，熱響應速度快，可在 5 分鐘內將測試溫度穩定在 - 40℃至 150℃之間，滿...

國瑞熱控半導體測試用加熱盤，專為芯片性能測試環節的溫度環境模擬設計，可精細復現芯片工作時的溫度條件。設備溫度調節范圍覆蓋 - 40℃至 150℃，支持快速升溫和降溫，速率分別達 25℃/ 分鐘和 20℃/ 分鐘，能模擬不同工況下的溫度變化。加熱盤表面采用柔性導...

針對半導體濕法工藝中溶液溫度控制需求，國瑞熱控濕法**加熱盤采用耐腐蝕不銹鋼材質，經電解拋光與鈍化處理，可耐受酸堿溶液長期浸泡無腐蝕。加熱盤內置密封式加熱元件，與溶液完全隔離，避免漏電風險，同時具備 1500V/1min 的電氣強度，使用安全可靠。通過底部加熱...

電控晶圓加熱盤：半導體工藝的準確溫控重點。無錫國瑞熱控的電控晶圓加熱盤，以創新結構設計解釋半導體制造的溫控難題。其底盤內置螺旋狀發熱電纜與均溫膜，通過熱量傳導路徑優化，使加熱面均溫性達到行業高標準，確保晶圓表面溫度分布均勻，為光刻膠涂布等關鍵工藝提供穩定環境。...

國瑞熱控封裝測試**加熱盤聚焦半導體后道工藝需求，采用輕量化鋁合金材質，通過精密加工確保加熱面平整度誤差小于 0.05mm，適配不同尺寸封裝器件的測試需求。加熱元件采用片狀分布設計，熱響應速度快，可在 5 分鐘內將測試溫度穩定在 - 40℃至 150℃之間，滿...

國瑞熱控金屬加熱盤突破海外技術壁壘，實現復雜結構產品量產能力。采用不銹鋼精密加工一體化成型，通過五軸聯動機床制造螺紋斜孔等復雜結構，加熱面粗糙度 Ra 小于 0.1μm。內置螺旋狀不銹鋼加熱元件，經真空焊接工藝與基體緊密結合，熱效率達 90%，升溫速率 25℃...

國瑞熱控光刻膠烘烤加熱盤以微米級溫控精度支撐光刻工藝，采用鋁合金基體與陶瓷覆層復合結構，表面粗糙度 Ra 小于 0.1μm，減少光刻膠涂布缺陷。加熱面劃分 6 個**溫控區域，通過仿真優化的加熱元件布局，使溫度均勻性達 ±0.5℃，避免烘烤過程中因溫度差異導致...

國瑞熱控薄膜沉積**加熱盤以精細溫控助力半導體涂層質量提升，采用鋁合金基體與陶瓷覆層復合結構，表面粗糙度 Ra 控制在 0.08μm 以內，減少薄膜沉積過程中的界面缺陷。加熱元件采用螺旋狀分布設計，配合均溫層優化，使加熱面溫度均勻性達 ±0.5℃，確保薄膜厚度...