國瑞熱控 8 英寸半導體加熱盤聚焦成熟制程需求,以高性價比與穩定性能成為中低端芯片制造的推薦。采用鋁合金基體經陽極氧化處理,表面平整度誤差小于 0.03mm,加熱面溫度均勻性控制在 ±2℃以內,滿足 65nm 至 90nm 制程的溫度要求。內部采用螺旋狀鎳鉻加...
國瑞熱控開發加熱盤智能診斷系統,通過多維度數據監測實現故障預判。系統集成溫度波動分析、絕緣性能檢測、功率曲線對比三大模塊,可識別加熱元件老化、密封失效等 12 類常見故障,提**0 天發出預警。采用邊緣計算芯片實時處理數據,延遲小于 100ms,通過以太網上傳...
國瑞熱控光刻膠烘烤加熱盤以微米級溫控精度支撐光刻工藝,采用鋁合金基體與陶瓷覆層復合結構,表面粗糙度 Ra 小于 0.1μm,減少光刻膠涂布缺陷。加熱面劃分 6 個**溫控區域,通過仿真優化的加熱元件布局,使溫度均勻性達 ±0.5℃,避免烘烤過程中因溫度差異導致...
針對半導體載板制造中的溫控需求,國瑞熱控**加熱盤以高穩定性適配載板鉆孔、電鍍等工藝。采用不銹鋼基材經硬化處理,表面硬度達 HRC50 以上,耐受載板加工過程中的機械沖擊無變形。加熱元件采用蛇形分布設計,加熱面溫度均勻性達 ±1℃,溫度調節范圍 40℃-180...
國瑞熱控建立半導體加熱盤全生命周期服務體系,為客戶提供從選型咨詢到報廢回收的全流程支持。售前提供工藝適配咨詢,結合客戶制程需求推薦合適型號或定制方案;售中提供安裝調試指導,確保加熱盤與設備精細對接,且提供操作培訓服務;售后提供7×24小時技術支持,設備故障響應...
國瑞熱控開發加熱盤智能診斷系統,通過多維度數據監測實現故障預判。系統集成溫度波動分析、絕緣性能檢測、功率曲線對比三大模塊,可識別加熱元件老化、密封失效等 12 類常見故障,提**0 天發出預警。采用邊緣計算芯片實時處理數據,延遲小于 100ms,通過以太網上傳...
國瑞熱控針對離子注入后雜質***工藝,開發**加熱盤適配快速熱退火需求。采用氮化鋁陶瓷基材,熱導率達 200W/mK,熱慣性小,升溫速率達 60℃/ 秒,可在幾秒內將晶圓加熱至 1000℃,且降溫速率達 40℃/ 秒,減少熱預算對晶圓的影響。加熱面采用激光打孔...
國瑞熱控針對離子注入后雜質***工藝,開發**加熱盤適配快速熱退火需求。采用氮化鋁陶瓷基材,熱導率達 200W/mK,熱慣性小,升溫速率達 60℃/ 秒,可在幾秒內將晶圓加熱至 1000℃,且降溫速率達 40℃/ 秒,減少熱預算對晶圓的影響。加熱面采用激光打孔...
國瑞熱控依托 10 余年半導體加熱盤研發經驗,提供全流程定制化研發服務,滿足客戶特殊工藝需求。服務流程涵蓋需求分析、方案設計、原型制作、性能測試、批量生產五大環節,可根據客戶提供的工藝參數(溫度范圍、控溫精度、尺寸規格、環境要求等),定制特殊材質(如高純石墨、...
國瑞熱控深耕半導體加熱盤國產化研發,針對進口設備的技術壁壘與供應風險,推出全套替代方案。方案涵蓋6英寸至12英寸不同規格加熱盤,材質包括鋁合金、氮化鋁陶瓷等,可直接替換Kyocera、CoorsTek等國際品牌同型號產品,且在溫度均勻性、控溫精度等關鍵指標上達...
電控晶圓加熱盤:半導體工藝的準確溫控重點。無錫國瑞熱控的電控晶圓加熱盤,以創新結構設計解釋半導體制造的溫控難題。其底盤內置螺旋狀發熱電纜與均溫膜,通過熱量傳導路徑優化,使加熱面均溫性達到行業高標準,確保晶圓表面溫度分布均勻,為光刻膠涂布等關鍵工藝提供穩定環境。...
針對晶圓清洗后的烘干環節,國瑞熱控**加熱盤以潔凈高效的特性適配嚴苛需求。產品采用高純不銹鋼基材,表面經電解拋光與鈍化處理,粗糙度 Ra 小于 0.2μm,減少水分子附著與雜質殘留。加熱面采用蜂窩狀導熱結構,使熱量均勻分布,晶圓表面溫度差控制在 ±2℃以內,避...
針對半導體制造中的高真空工藝需求,國瑞熱控開發**真空密封組件,確保加熱盤在真空環境下穩定運行。組件采用氟橡膠與金屬骨架復合結構,耐溫范圍覆蓋 - 50℃至 200℃,可長期在 10??Pa 真空環境下使用無泄漏。密封件與加熱盤接口精細匹配,通過多道密封設計提...
借鑒空間站 “雙波長激光加熱” 原理,國瑞熱控開發半導體激光加熱盤,適配極端高溫材料制備。采用氮化鋁陶瓷基體嵌入激光吸收層,表面可承受 3000℃以上局部高溫,配合半導體激光與二氧化碳激光協同加熱,實現 “表面強攻 + 內部滲透” 的加熱效果。加熱區域直徑可在...
針對半導體濕法工藝中溶液溫度控制需求,國瑞熱控濕法**加熱盤采用耐腐蝕不銹鋼材質,經電解拋光與鈍化處理,可耐受酸堿溶液長期浸泡無腐蝕。加熱盤內置密封式加熱元件,與溶液完全隔離,避免漏電風險,同時具備 1500V/1min 的電氣強度,使用安全可靠。通過底部加熱...
面向先進封裝 Chiplet 技術需求,國瑞熱控**加熱盤以高精度溫控支撐芯片互聯工藝。采用鋁合金與陶瓷復合基材,加熱面平面度誤差小于 0.02mm,確保多芯片堆疊時受熱均勻。內部采用微米級加熱絲布線,實現 1mm×1mm 精細溫控分區,溫度調節范圍覆蓋室溫至...
國瑞熱控薄膜沉積**加熱盤以精細溫控助力半導體涂層質量提升,采用鋁合金基體與陶瓷覆層復合結構,表面粗糙度 Ra 控制在 0.08μm 以內,減少薄膜沉積過程中的界面缺陷。加熱元件采用螺旋狀分布設計,配合均溫層優化,使加熱面溫度均勻性達 ±0.5℃,確保薄膜厚度...
針對半導體載板制造中的溫控需求,國瑞熱控**加熱盤以高穩定性適配載板鉆孔、電鍍等工藝。采用不銹鋼基材經硬化處理,表面硬度達 HRC50 以上,耐受載板加工過程中的機械沖擊無變形。加熱元件采用蛇形分布設計,加熱面溫度均勻性達 ±1℃,溫度調節范圍 40℃-180...
國瑞熱控推出半導體加熱盤專項維修服務,針對加熱元件老化、溫度均勻性下降等常見問題提供系統解決方案。服務流程涵蓋外觀檢測、絕緣性能測試、溫度場掃描等 12 項檢測項目,精細定位故障點。采用原廠匹配的氮化鋁陶瓷基材與加熱元件,維修后的加熱盤溫度均勻性恢復至 ±1℃...
國瑞熱控半導體加熱盤**散熱系統,為設備快速降溫與溫度穩定提供有力支持。系統采用水冷與風冷復合散熱方式,水冷通道圍繞加熱盤均勻分布,配合高轉速散熱風扇,可在 10 分鐘內將加熱盤溫度從 500℃降至室溫,大幅縮短工藝間隔時間。散熱系統配備智能溫控閥,根據加熱盤...
國瑞熱控深耕半導體加熱盤國產化研發,針對進口設備的技術壁壘與供應風險,推出全套替代方案。方案涵蓋6英寸至12英寸不同規格加熱盤,材質包括鋁合金、氮化鋁陶瓷等,可直接替換Kyocera、CoorsTek等國際品牌同型號產品,且在溫度均勻性、控溫精度等關鍵指標上達...
針對化學氣相沉積工藝的復雜反應環境,國瑞熱控 CVD 電控加熱盤以多維技術創新**溫控難題。加熱盤內置多區域**溫控模塊,可根據反應腔不同區域需求實現差異化控溫,溫度調節范圍覆蓋室溫至 600℃,滿足各類 CVD 反應的溫度窗口要求。采用特種絕緣材料與密封結構...
國瑞熱控清洗槽**加熱盤以全密封結構設計適配高潔凈需求,采用 316L 不銹鋼經電解拋光處理,表面粗糙度 Ra 小于 0.05μm,無顆粒脫落風險。加熱元件采用氟塑料密封封裝,與清洗液完全隔離,耐受酸堿濃度達 90% 的腐蝕環境,電氣強度達 2000V/1mi...
針對化學氣相沉積工藝的復雜反應環境,國瑞熱控 CVD 電控加熱盤以多維技術創新**溫控難題。加熱盤內置多區域**溫控模塊,可根據反應腔不同區域需求實現差異化控溫,溫度調節范圍覆蓋室溫至 600℃,滿足各類 CVD 反應的溫度窗口要求。采用特種絕緣材料與密封結構...
國瑞熱控推出半導體加熱盤**溫度監控軟件,實現加熱過程的數字化管理與精細控制。軟件具備實時溫度顯示功能,可通過圖表直觀呈現加熱盤各區域溫度變化曲線,支持多臺加熱盤同時監控,方便生產線集中管理。內置溫度數據存儲與導出功能,可自動記錄加熱過程中的溫度參數,存儲時間...
針對車載半導體高可靠性需求,國瑞熱控測試加熱盤適配 AEC-Q100 標準。采用**級鋁合金基材,通過 - 55℃至 150℃高低溫循環測試 5000 次無變形,加熱面平整度誤差小于 0.03mm。溫度調節范圍覆蓋 - 40℃至 200℃,升降溫速率達 30℃...
國瑞熱控半導體封裝加熱盤,聚焦芯片封裝環節的加熱需求,為鍵合、塑封等工藝提供穩定熱源。采用鋁合金與云母復合結構,兼具輕質特性與優良絕緣性能,加熱面功率密度可根據封裝規格調整,比較高達 2W/CM2。通過優化加熱元件排布,使封裝區域溫度均勻性達 95% 以上,確...
國瑞熱控 12 英寸半導體加熱盤專為先進制程量產需求設計,采用氮化鋁陶瓷與高純銅復合基材,通過多道精密研磨工藝,使加熱面平面度誤差控制在 0.015mm 以內,完美貼合大尺寸晶圓的均勻受熱需求。內部采用分區式加熱元件布局,劃分 8 個**溫控區域,配合高精度鉑...
為降低半導體加熱盤的熱量損耗,國瑞熱控研發**隔熱組件,通過多層復合結構設計實現高效保溫。組件內層采用耐高溫隔熱棉,熱導率* 0.03W/(m?K),可有效阻隔加熱盤向設備腔體的熱量傳遞;外層選用金屬防護殼,兼具結構強度與抗腐蝕性能,適配半導體潔凈車間環境。隔...
針對等離子體刻蝕環境的特殊性,國瑞熱控配套加熱盤采用藍寶石覆層與氮化鋁基底的復合結構,表面硬度達莫氏 9 級,可耐受等離子體長期轟擊而無材料脫落。加熱盤內部嵌入鉬制加熱絲,經后嵌工藝固定,避免高溫下電極氧化影響加熱性能,工作溫度范圍覆蓋室溫至 500℃,控溫精...