薄膜相位差測試儀在光學鍍膜行業應用普遍，主要用于評估功能薄膜的相位調制特性。通過測量薄膜引起的偏振態變化，可以精確計算其雙折射特性和厚度均勻性。這種測試對相位延遲膜、波片等光學元件的質量控制尤為重要。當前的光譜橢偏技術結合相位差測量，實現了對復雜膜系結構的深入分析。在激光光學系統中，薄膜相位差的精確控制直接關系到系統的整體性能。此外，該方法還可用于研究環境條件對薄膜性能的影響，如溫度、濕度變化導致的相位特性漂移，為產品可靠性評估提供科學依據提供透過率，偏光度，貼合角，Re， Rth等測試項目。安徽穆勒矩陣相位差測試儀研發

相位差測量儀同樣為AR/VR領域的創新技術研發提供了強大的驗證工具。在面向未來的超表面（Metasurface）、全息光學元件（HOE）等新型光學方案研究中，這些元件通過納米結構實現對光波的任意相位調控。驗證其相位調制函數是否與設計預期相符是研發成功的關鍵。該儀器能夠直接、快速地測繪出超表面工作時的完整相位分布，成為連接納米設計與實際光學性能之間的橋梁，極大加速了從實驗室概念到量產產品的轉化進程。此外，在AR/VR產品的生產線上，集成化的在線相位差測量系統實現了對光學模組的快速全檢與數據閉環。它可自動對每個模組進行波前質量篩查，并將測量結果與產品身份識別碼綁定，生成可***追溯的質量數據鏈。這不僅保證了出廠產品的一致性，更能將數據反饋至前道工藝，實現生產參數的自適應調整，推動AR/VR制造業向智能化、數字化和高質量方向持續發展，滿足消費電子市場對產品***性能的苛刻要求。
安徽穆勒矩陣相位差測試儀多少錢一臺通過相位差測試儀可分析偏光片的相位延遲，優化生產工藝。

在光學膜配向角測量方面，相位差測量儀展現出獨特優勢。液晶顯示器的配向層取向直接影響液晶分子的排列，進而決定顯示性能。通過測量配向膜引起的偏振光相位變化，可以精確計算配向角的大小，控制精度可達0.1度。這種方法不僅用于生產過程中的質量監控，也為新型配向材料的研發提供了評估手段。在OLED器件中，相位差測量還能分析有機發光層的分子取向，為提升器件效率提供重要參考。隨著柔性顯示技術的發展，這種非接觸式測量方法的價值更加凸顯。蘇州千宇光學自主研發的相位差測量儀可以測試0-20000nm的相位差范圍，實現較低相位差測試，可解析Re為1納米以內基膜的殘留相位差，高相位差測試，可對離型膜、保護膜等高相位差樣品進行檢測，搭載多波段光譜儀,檢測項目涵蓋偏光片各學性能，高精密高速測量。并且還可以支持定制可追加椎光鏡頭測試曲面樣品。

光學特性諸如透過率、偏振度、貼合角和吸收軸等參數，直接決定了偏光材料在顯示中的效果。因此控制各項參數，是確保終端產品具備高效光學性能的重中之重。PLM系列是由千宇光學精心設計研發及生產的高精度相位差軸角度測量設備,滿足QC及研發測試需求的同時，可根據客戶需求，進行In-line定制化測試該系列設備采用高精度Muller矩陣可解析多層相位差，是對吸收軸角度、快慢軸角度、相位差、偏光度、色度及透過率等進行高精密測量；是結合偏光解析和一般光學特性分析于一體的設備，提供不同型號，供客戶進行選配，也可以根據客戶需求定制化機型。相位差測試儀可用于偏光片老化測試，評估長期穩定性。

PLM系列相位差測試儀在AR/VR光學模組的量產檢測中具有獨特優勢。該系列整合了相位差、光軸、透過率等多項測試功能，實現一站式測量。系統采用模塊化設計，可根據不同產品需求靈活配置測試項目。在Pancake模組的檢測中，PLM測試儀能在90秒內完成12項關鍵參數的測量。當前的機器視覺引導技術實現了測試流程的全自動化，日檢測量可達800-1000個模組。此外，系統內置的SPC統計分析模塊可實時監控工藝波動，為質量管控提供決策依據。該系列儀器已廣泛應用于主流VR設備制造商的生產線。快速測量吸收軸角度。浙江斯托克斯相位差測試儀研發

用于測量復合光學膜的多層相位差軸向，優化疊層設計以提高光學性能。安徽穆勒矩陣相位差測試儀研發

光學膜貼合角測試儀通過相位差測量評估光學元件貼合界面的質量。當兩個光學表面通過膠合或直接接觸方式結合時，其界面會形成納米級的空氣間隙或應力層，導致可測量的相位差。這種測試對高精度光學系統的裝配尤為重要，如相機鏡頭模組、激光諧振腔等。當前的干涉測量技術結合相位分析算法，可以實現亞納米級的貼合質量評估。在AR設備的光學模組生產中，貼合角測試確保了多個光學元件組合后的整體性能。此外，該方法還可用于研究不同貼合工藝對光學性能的影響，為工藝優化提供數據支持安徽穆勒矩陣相位差測試儀研發

千宇光學專注于偏振光學應用、光學解析、光電探測器和光學檢測儀器的研發與制造。主要事業涵蓋光電材料、光學顯示、半導體、薄膜橡塑、印刷涂料等行業。 產品覆蓋LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光學測試需求，并于國內率先研發相位差測試儀打破國外設備壟斷，目前已廣泛應用于全國光學頭部品牌及其制造商

千宇光學研發中心由光學博士團隊組成，掌握自主的光學檢測技術, 測試結果可溯源至國家計量標準。與國家計量院、華中科技大學、東南大學、同濟大學等高校建立產學研深度合作。千宇以提供高價值產品及服務為發展原動力， 通過持續輸出高速度、高精度、高穩定的光學檢測技術，優化產品品質，成為精密光學產業有價值的合作伙伴。